～ ワイブル分布を用いた信頼性試験データ解析手法、累積ハザード型ワイブル分布を用いた市場故障データ解析手法、耐用寿命の推定法 ～
・信頼性試験データ解析・市場故障データ解析のポイントと活用法を修得し、信頼性・安全性に関わるトラブルの未然防止に活かすための講座
・ワイブル解析による市場での寿命予測法や少ない故障データによる市場故障数の予測法を修得し、信頼性の高い製品開発に活かそう！
※今回、セミナーで用いましたエクセルシートはお渡し致します
・ＷＥＢ会議システムの使い方がご不明の方は弊社でご説明いたしますのでお気軽にご相談ください
電子回路製品を小型・低コストで製造するために、微細加工・薄型化された部品や部材が製品に搭載されています。一方、微細加工や薄膜素材の積層などでパターン間や素材間の電界強度が大きくなるため市場でのトラブル増加が懸念されます。また、部品選定を誤ると大きなトラブルを引き起こす可能性があり、過去にはパソコンのマザーボードが使用１年程度で故障した短寿命問題や、テレビ・扇風機・洗濯機など信頼性・安全性に係わるトラブルが発生しています。これらのトラブルをなくすために設計段階からFMEAや製品の信頼性試験などを用いて不良ゼロを目指した活動がなされていますが、市場トラブルがゼロになっているわけではありません。
そこで、本セミナーではトラブル撲滅の観点から信頼性試験データの解析方法を詳細に解説し、
１．発売前に実施した加速試験のデータを用いてワイブル解析による市場での寿命予測の仕方や
２．市場で故障した少ないデータを用いて累積ハザード解析による今後の市場故障数の予測の仕方
を手法・解析ツールも併せて伝授します。
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | オンラインセミナー |
| カテゴリー | オンラインセミナー、電気・機械・メカトロ・設備、品質・生産管理・ コスト・安全 |
| 受講対象者 |
・電子回路の設計・開発・研究・製造・品質管理・検査などの業務に携わる技術者の方 ・ワイブル解析や信頼性試験データの解析について基礎から修得したい方 |
| 予備知識 |
・エクセルの基本知識と統計の基礎知識 |
| 修得知識 |
・信頼性の基礎知識 ・信頼性試験における「サンプルサイズ」「試験時間」「試験条件」の関係 ・ワイブル分布に従う故障時間分布の基本を信頼性試験結果を基に解説します ①ワイブル分布の基礎(パラメータの理解) ②故障時間と故障の割合の関係とその分布の形 ・市場故障データに対する解析の仕方（ワイブル型累積ハザードを用いて実践） ・加速試験の考え方とその結果を踏まえた市場での耐用寿命の推定法 |
| プログラム |
１．信頼性の基礎知識 ２．よく実施されてる信頼性試験のサンプルサイズと試験時間の関係 ３．ワイブル分布を用いた信頼性試験データ解析とそのポイント ４．累積ハザード型ワイブル分布を用いた市場故障データ解析とそのポイント ５．信頼性加速試験データを基にした耐用寿命の推定 |
| キーワード |
信頼度 信頼水準 故障率 累積故障確率 累積ハザード 市場故障解析 ワイブル解析 故障分布関数 耐用寿命 寿命予測 加速試験 |
| タグ | 寿命予測、信頼性試験・故障解析、品質管理、電子部品、LSI・半導体 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
オンラインセミナー本セミナーは、Web会議システムを使用したオンラインセミナーとして開催します。 |
こちらのセミナーは受付を終了しました。
次回開催のお知らせや、類似セミナーに関する情報を希望される方は、以下よりお問合せ下さい。
営業時間 月~金：9:00～17:00 / 定休日：土日・祝日
