目標品質達成のための信頼性評価の基礎とそのポイント 〜1人1台PC実習付〜

〜信頼性の定量化、ワイブル確率紙によるデータ解析、寿命分布・市場故障率の検証〜

  • 効率良く、効果的に信頼性評価結果を得るための手法を身につける講座!
  • 設計段階から出荷までの信頼性評価手順を学び、要求に応じた故障率、必要な耐用年数の確保に活かそう!

PCとワイブル確率紙は弊社にて用意します

講師の言葉

 限られた設計工期の中で必要な信頼性を機器に作り込むためには、採用候補となる電子部品の選定も含めて、最善なる設計条件を選び出すことが必要になる。このための信頼性評価には、品質工学が適用する機能の安定性評価を適用することで、効率良く、効果的な評価結果を得ることができる。
 一方、出荷製品の品質を保証するためには、搭載部品が機器に必要な耐用年数を有し、市場から求められる品質を満足できるレベルの小さな故障率を維持していることを、常に管理していく必要がある。この管理に必要な信頼性特性を得るためには、信頼性試験と統計的な工程データの解析が必要になる。
 このような、機器の設計段階から量産出荷にいたるまでの、搭載部品の信頼性評価手順について解説する。

セミナー詳細

開催日時
  • 2015年09月30日(水) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 品質・生産管理・ コスト・安全
受講対象者 ・品質・信頼性の作り込みも含めて、電子機器・電装品の設計を担当されている方 ・機器の評価実験に携わっておられる方 ・品質保証・品質管理部門など市場品質を保証するための信頼性評価に関っている方
予備知識 ・指数関数、微分・積分や正規分布・平均・標準偏差など、数学・統計の基礎的な知識 ・品質管理や信頼性などの用語の知識(JIS Z 8115に規程)
修得知識 ・SN比を使った信頼性の比較評価手順 ・信頼性適合試験計画の立案 ・信頼性の統計モデル検討 ・信頼性試験結果を活用した統計的品質管理計画の立案
プログラム

1. セミナー概要
  (1). ディスカッション「信頼性試験の現状」
  (2). 目標品質達成への課題

2. 品質管理と品質工学の違い
  (1). 電子部品の寿命分布の特徴
  (2). 設計のための信頼性評価
  (3). 品質管理のための信頼性評価

3. 信頼性を定量化するための確率
  (1). 信頼度関数と故障分布関数
  (2). 故障率と累積ハザード
  (3). 試料数と累積故障確率
   ・演習 β関数の逆関数で解く累積故障確率

4. 統計的信頼性データの解析(演習)
  (1). 正規確率紙を使った試験結果の解析
  (2). ワイブル確率紙を使ったデータ解析
  (3). ワイブル型累積ハザード紙を使ったデータ解析
   ・演習 ワイブル確率紙を使ったワイブル分布のパラメータの推定
   ・演習 EXCELの散布図を使ったワイブル分布のパラメータの推定
   ・演習 最大尤度推定法を使ったワイブル分布のパラメータの推定
※従来ワイブル確率紙を使ってパラメータを調べていた信頼性データ解析に変わって、実験結果からモデル(統計的な分布を表す関数)を仮定して、最大尤度推定法を適用して最適なモデルとそのパラメータを調べる手法も、最近提案されています。この手法を使えば、設計条件や製造条件を、寿命分布も考慮に入れて最適化することにも応用できます。

5.機器設計のための信頼性評価
  (1). パラメータダイアグラムの作成
  (2). FTAに基づくパラメータの選択
  (3). 機能の安定性評価

6.摩耗故障の寿命分布の検証
  (1). 試験の対象となる故障の抽出
  (2). 故障メカニズムと加速モデルの選択
  (3). 信頼性適合試験計画(1)(計数抜取試験)
   ・演習 市場のストレス分布と試験条件における耐用寿命の調整
  (4). 信頼性適合試験計画(2)(計量抜取試験)
   ・演習 計量抜取信頼性試験結果の解析
  (5). 試験結果の検査規格への反映

7.市場故障率の検証
  (1). 市場故障率の一般的な推定手順の紹介
  (2). 電子部品メーカ工程情報に基く市場故障率の予測
   ・演習 市場故障の発生予測
  (3). 解析結果の検査工程に対する管理基準への反映
  (4). 生産計画に基づく市場品質の向上計画

8. まとめ
  (1). 搭載部品の信頼性評価の進め方
  (2). 生産計画に基づく市場品質の向上計画
  (3). 安全性評価に必要な故障率予測への応用
  (4). 質疑応答

三角定規をご持参下さい

キーワード 寿命分布 信頼度関数 故障分布関数 累積ハザード ワイブル確率紙 最尤法 パラメータダイアグラム 計数抜取試験 計量抜取試験 市場故障率
タグ 寿命予測品質管理電子部品
受講料 一般 (1名):50,600円(税込)
同時複数申込の場合(1名):45,100円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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