~ 故障検出率とテスト品質、論理回路のテスト技術、テスト容易化設計、故障診断と故障解析、メモリデバイスのテスト技術、テストアルゴリズム、ソフトエラー ~
・VLSIの品質保証に重要な役割を果たすテスト(故障検査)技術を修得し、信頼性の高い製品開発に活かすための講座
・微細化が進み、大規模・高機能化するVLSIを短時間で確実にテストする技術を修得し、高品質なLSIを開発しよう!
・本講座で、機能安全やセキュリティに対応する技術も修得できます
~ 故障検出率とテスト品質、論理回路のテスト技術、テスト容易化設計、故障診断と故障解析、メモリデバイスのテスト技術、テストアルゴリズム、ソフトエラー ~
・VLSIの品質保証に重要な役割を果たすテスト(故障検査)技術を修得し、信頼性の高い製品開発に活かすための講座
・微細化が進み、大規模・高機能化するVLSIを短時間で確実にテストする技術を修得し、高品質なLSIを開発しよう!
・本講座で、機能安全やセキュリティに対応する技術も修得できます
VLSIの用途は拡大を続けており、安全性が重要な用途でもキーデバイスとして利用されるため、その品質保証の重要性がますます高まっています。本講義では、VLSIの品質保証に重要な役割を果たすテスト(故障検査)技術について解説します。VLSIのテストは、製造したチップ中の良品を選別する作業で、実際には製造工程において実施されますが、設計及び製造の両方の工程に深く関わります。微細化が進み、大規模・高機能化するVLSIを短時間で確実にテストするためには、設計段階からテストのことを考えておく必要があります。
本講義では、まず、テストの位置づけや信頼性及びコストとの関わりなどの基本的な概念を示し、次に、論理回路とメモリ回路を対象とした故障モデル、テストパターン、テスト容易化設計などの基礎的なテスト技術について説明します。また、デバイスの劣化や機能安全、セキュリティなど、最新のテスト技術のトレンドについても紹介します。
開催日時 |
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開催場所 | オンラインセミナー |
カテゴリー | オンラインセミナー、電気・機械・メカトロ・設備、品質・生産管理・ コスト・安全 |
受講対象者 |
・VLSIテスト技術の基礎知識を身につけたい方 ・VLSIの設計やテストに従事しようとするエンジニアの方 ・論理回路や半導体メモリなどのデジタルICやSoCなどの設計やテストに関わるエンジニアの方 |
予備知識 | ・論理回路の基本として、AND、OR、NOTなどの論理ゲートの機能に関する知識 |
修得知識 | ・VLSIの設計及び製造におけるテストの役割や品質に対する考え方の知識が身につきます。さらに、回路設計に役立つ様々なテスト関連の知識を身につけることができ、機能安全やセキュリティに対応する技術も修得できます |
プログラム |
1.VLSIテストの基礎 2.論理回路のテスト技術 3.メモリデバイスのテスト技術 4.テストの最新技術 (ホットトピックス) |
キーワード | VLSI テストコスト テスト品質 論理回路 故障モデル テストパターン 故障シミュレーション テスト容易化設計 故障診断 故障解析 テストアルゴリズム ソフトエラー |
タグ | 検査、シミュレーション・解析、信頼性試験・故障解析、回路設計、基板・LSI設計、電子部品、LSI・半導体 |
受講料 |
一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込) |
会場 |
オンラインセミナー本セミナーは、Web会議システムを使用したオンラインセミナーとして開催します。 |
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営業時間 月~金:9:00~17:00 / 定休日:土日・祝日