〜 要件提案から設計・開発・検証に至るソフトウェア開発の全体の品質確保 〜
・限られた納期のなかで開発効率と品質向上を実現するノウハウを修得するための講座
・検証コストをおさえ、効果的にバグをなくし、品質を向上させるための特別セミナー!
・要件から設計・製造に至るまでの十分性を確保して、お客様の満足度を向上させよう!
〜 要件提案から設計・開発・検証に至るソフトウェア開発の全体の品質確保 〜
・限られた納期のなかで開発効率と品質向上を実現するノウハウを修得するための講座
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・要件から設計・製造に至るまでの十分性を確保して、お客様の満足度を向上させよう!
今日、ソフトウェア規模は急激に大きくなり、複雑さも増しています。しかも、要求仕様がなかなか決まらない場合でも納期を守らなければならないという制約の中で開発する必要もあります。当教育の目的は、この課題への対応について、事例ベースで教育し、自分たちに合ったやり方を考えて頂くことにあります。
レビューでは、目的に合わせて最適なレビュー方法を選択し、さらにいろいろなレビュー方法を組み合わせて効率良く品質を上げる方法を解説します。
テストにおいては、網羅性の高いブラックボックステスト項目の作成方法と、設計レビューとテスト項目作成を兼用して開発効率を上げる方法を解説します。また、考えられる障害からテスト項目を設定する方法や、多量のテスト項目から有効なテスト項目を選定した事例を解説します。またテストの工数や期間短縮するためのノウハウも解説します。
開催日時 |
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開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
カテゴリー | ソフト・データ・画像・デザイン |
受講対象者 | ・ソフトウェア開発部門の方 ・レビュー・検証担当者やリーダ |
予備知識 | ・ある程度基礎的なソフト開発の知識あるいは2年以上のシステム開発経験がある方 |
修得知識 | ・効率的なレビューとテストの進め方 *持参品:帳票類のExcelファイルをお渡ししますので、USBメモリをご持参ください |
プログラム |
1.要件の検証と要件実現方法検討 2.効率を上げるレビュー計画と管理法 3.テストの効率化 |
キーワード | 要件の検証 仕様書 機能変更・改造 レビュー 機能網羅テスト 制御網羅テスト |
タグ | ソフト品質、デバイスドライバ、品質管理、組み込みソフト |
受講料 |
一般 (1名):72,600円(税込)
同時複数申込の場合(1名):67,100円(税込) |
会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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営業時間 月~金:9:00~17:00 / 定休日:土日・祝日