ワイブル解析の基礎と信頼性保証への活かし方 〜演習付〜

〜コストと信頼性のトレードオフに必要な知識、事例を通じた確率紙推定解析結果を信頼性マネジメントに活かすポイント〜

・信頼性性能を活用情報として把握し、故障防止対策や製品の正常性を評価・維持していくための講座

信頼性性能を定量的に推定する手法として特に有用性の高いワイブル解析を修得し、製品の信頼性を確保しよう!         

〔持参品〕

 ・関数電卓、自在定規または雲形定規、直角定規2ケ

    

講師の言葉

 「信頼性は製品開発設計段階で作り込め」。よく聞かれる言葉です。FMEAやFTA、デザインレビューなどの手法が活用されてきたことで、“信頼性を作り込む”という指向が企業活動の中に広く浸透してきています。しかし、作り込むためには、素になる信頼性に関するデータが必要になります。これにはあたりまえに“故障データ”が活用されています。データは価値を判断するための情報であり、信頼性の価値を判断するためには、「故障」というキーワードを確実に理解し、「故障」のデータを的確に取得し、効果的に分析することが重要になります。故障情報の取り扱いに悩んでいませんか。
 本講座では、故障とは何か、故障の本質と考え方を探りながら信頼性の本質を浮き彫りにしていくとともに、故障情報を信頼性性能の定量的評価に活かす手法として特に有用性の高いワイブル解析について、ワイブル解析の実施手順、ワイブル解析を利用して説き明かすべきポイント、更には信頼性マネジメントへの活かし方を、基礎からわかりやすく解説いたします。

セミナー詳細

開催日時
  • 2015年08月31日(月) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 品質・生産管理・ コスト・安全
受講対象者 ・研究開発、設計、生産技術、品質保証、信頼性保証、設備保守技術部門の若手技術者. ・業務経験の浅い方、初心者の方にもお奨めします.
予備知識 ・特別な予備知識の必要はありません
修得知識 ・信頼性が持つ情報の価値を習得できます。更に、ワイブル解析の活用知識を基礎から学ぶことができるとともに、実務に有効に利用するためのポイントを修得することができます。
プログラム

1.信頼性の本質
  (1).ばらつきと信頼性
  (2).コストと信頼性のトレードオフに必要な知識
  (3).開発設計のアウトプット段階で信頼性の実力が形づくられる
  (4).製品製造のインプット段階で信頼性の実力がほぼ決まる
  (5).使用時間とともに価値意識が薄れていくコスト
  (6).使用時間とともに価値意識が大きくなる信頼性
  (7).故障とは
  (8).故障情報とは
  (9).故障情報が持つ価値(無価値にしないポイント)
 (10).故障情報の取得方法:信頼性試験・クレーム
 (11).故障情報からわかるもの
 (12).故障情報から捉える信頼性の実力を把握するポイント

2.故障の本質
  (1).なぜ故障が起こるのか
  (2).ストレスと故障
  (3).製品を取り巻く全ての環境はストレスである
  (4).避けられるストレスと避けられないストレス
  (5).故障は物理現象の結果である:技術者として知るべき知識
  (6).故障は化学現象の結果である:技術者として知るべき知識
  (7).ストレス環境と故障要因例
  (8).最弱リンクと故障
  (9).最弱リンクモデルの考え方

3.故障情報から信頼性性能を捉えるワイブル解析の考え方
  (1).標準的なワイブル解析手順
     ※対象となる全ての故障データが取得できたとして、まずは手順を体験して頂きます
     a.‘手法’であることを理解する
     b.手順説明に用いる実例の説明(予定:光源)
     c.ワイブル確率紙による推定手順
     d.推定手順に登場するキーワード
  (2).信頼性実力を知るための統計的推測手法の考え方
  (3).信頼性に関わる確率分布:その特徴と活用の区分
  (4). なぜワイブル解析がよく利用されるのか
  (5).確率紙=グラフによる推定解析の原理
  (6).指標となる縦軸と横軸
  (7).故障データの種類:完全データと不完全データ
  (8).市場故障情報と不完全データ

4.不完全データの場合のワイブル解析の進め方(確率紙による)
  (1). ハザードとは
  (2). ハザード関数とは
  (3).推定手順の説明(事例による)

5.ワイブル解析 〜事例演習〜
   ※事例を通じて確率紙推定解析の理解を深めます

6.まとめ
  (1).標ワイブル解析結果を信頼性マネジメントに活かすポイント
  (2). まとめ

キーワード ワイブル解析 信頼性性能推定 ストレス環境 故障メカニズム 確率紙 ハザード 
タグ 寿命予測信頼性試験・故障解析電子機器電子部品
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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