半導体実装技術の基礎と高集積化・高機能化を実現する接続および信頼性評価技術 【対面講座・オンライン】
~ 半導体と実装プロセス、半導体チップインターコネクション技術、パワー半導体の実装技術、システムインテグレーション実装技術、半導体信頼性と加速試験 ~
・半導体実装の全体像と3次元実装やチップレット、パワー半導体の低温接合などの最新技術と信頼性評価技術を修得し、高性能で高品質な製品開発および実装技術に応用するための講座
・世代交代と分業化により技術伝承が懸念され、体系的に学べる機会のない半導体実装技術の基礎からチップインターコネクションの最新技術までを修得し、信頼性を確保した製品へ応用しよう!
*講師の著書をお配りいたします
講師の言葉
2026年4月に出版された-半導体実装技術の基礎と応用(科学情報出版)-に記載された内容のコアとなる部分を中心に講義します。半導体実装技術は、国内の企業で長年にわたる技術の蓄積がなされてきたが、世代交代と海外OSATなどへの分業化などで技術伝承が懸念されている。また技術分野は、材料工学、電子デバイス工学、機械工学など多岐にわたっており、体系的に学べる機会が少なくなってきた。
ここでは導電接続分野を中心に、技術の要点を解説し、その後、詳細は自身でも参考資料を基に理解度を深めてもらえるように、最近の研究や参考文献の紹介も行います。
※本セミナーは弊社研修室で対面にて実施しますが、オンラインでご受講いただくことも可能です。
オンラインでのご受講をご希望の場合は、お申込時に[通信欄]に『オンライン受講を希望』とご記入ください。
セミナー詳細
| 開催日時 |
- 2026年11月13日(金) 10:30 ~ 17:30
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| 開催場所 |
日本テクノセンター研修室 |
| カテゴリー |
電気・機械・メカトロ・設備 |
| 受講対象者 |
・半導体の実装技術に関連する業務に携われている技術者ならびに基礎から復習を考えている中堅技術者の方
・半導体関連の技術営業に携わっておられる方で、実装分野を含め理解を深めたい方 |
| 予備知識 |
・材料技術の基礎的知識があると理解しやすい |
| 修得知識 |
・半導体実装技術の全般と導電接続技術の最新技術
・半導体実装における信頼性技術 |
| プログラム |
1.半導体と実装プロセスの概要
(1).半導体実装とは
a.半導体実装の目的と要求される特性
b.半導体製造プロセス
(2).半導体実装技術とチップインターコネクション技術の変遷
a.半導体実装技術の進展(ファインピッチ化、フリップチップ化)
b.チップインターコネクション技術の変遷
c.ムーアの法則とCPU の実装技術の進展
d.複数チップのモジュール化(HIC、MCM、SiP、Chiplet、Heterogeneous Integration)
(3).各パッケージングタイプにおける進展
a.リードフレームタイプ(DIP、QFP)
b.基板タイプ(PGA、BGA、CSP、LGA)
c.Wafer-Level Packaging(WLP)
d.Fan-Out WLP
(4).パワー半導体の実装技術
a.パワー半導体とは
b.パワー半導体の各種実装技術
c.新たなパワー半導体
2.半導体チップインターコネクションと接合信頼性
(1).ワイヤボンディング
a.ワイヤボンディングプロセスと装置
b.超音波接合
c.ボンディングワイヤ材料(Au、Cu、Ag、Al)
d.ワイヤボンディングの接合信頼性
(2).フリップチップ(Flip Chip)
a.フリップチップバンプの種類と接合方法
b.フリップチップ下地金属(UBM:Under Bump Metal)
c.プレソルダー形成技術
(3).TAB実装
a.TABテープ技術
b.TAB用バンプ形成技術
c.TAB接合技術
(4).はんだ材料とリフロー技術
a.はんだ材料
b.はんだリフロー技術
c.はんだリフロー装置
(5).実装基板
a.プリント配線基板
b.パッケージ基板
c.ビルトアップ基板-微細配線
3.半導体実装接続技術の最新技術
(1).導電接続技術の分類と今後の接続技術
(2).システムインテグレーション実装技術-3次元実装技術
a.チップレット集積技術/異種チップ積層技術(Heterogeneous Integration)
b.中間領域の微細接合技術
(3).パワー半導体用高温耐熱接続技術
a.パワーデバイス用太線ワイヤボンディング
b.TLP(Transient Liquid Phase)接合
c.ナノサイズ金属粒子による低温接合
(4).メッキによるパワーデバイス電極の低温接合
a.パワーオーバーレイ(POL)
b.マイクロメッキ接合
c.ニッケルマイクロメッキ接合(NMPB:Nickel Micro-Plating Bonding)
(5).太陽電池インターコネクタへのマイクロメッキ接合の応用
4.半導体実装の信頼性と評価手法
(1).半導体信頼性と加速試験
a.信頼性試験
b.加速評価試験
(2).半導体実装技術ならびに信頼性に関わる結晶構造、結晶欠陥と原子の拡散挙動
a.結晶構造と格子欠陥
b.金属の拡散の原理
c.拡散の機構と温度特性
d.カーケンダルボイドとパープルプレイグ
e.格子欠陥の回復
(3).合金状態図
a.全率固溶型の状態図
b.共晶型の状態図
c.その他の状態図
(4).材料の強度と破壊
a.材料の変形と強度を支配する格子欠陥
b.金属材料の強度支配要因
c.回復と再結晶
d.材料の延性破壊と脆性破壊、疲労破壊
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| キーワード |
チップインターコネクション ファインピッチ化 フリップチップ化 PGA BGA CSP LGA WLP Fan-Out WLP ワイヤボンディング TAB実装 リフロー技術 ビルトアップ基板 3次元実装 マイクロメッキ 結晶構造 結晶欠陥 格子欠陥
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| タグ |
信頼性試験・故障解析、はんだ、プリント基板、回路設計、基板・LSI設計、実装、電子部品、電池、LSI・半導体 |
| 受講料 |
一般 (1名):57,200円(税込)
同時複数申込の場合(1名):51,700円(税込)
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| 会場 |
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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