～ パワエレの回路方式と応用分野、ノイズ耐性試験、キャパシタの基礎と損失推定および信頼性確保と対策技術、コンディションモニタリング ～
・需要拡大で急務となっているパワーエレクトロニクスの信頼性向上を実現するための講座
・故障要因の過半数を占めているため不可欠となっているパワー半導体デバイスとキャパシタの故障対策と寿命診断技術を修得し、信頼性向上へ活かそう！
・ＷＥＢ会議システムの使い方がご不明の方は弊社でご説明いたしますのでお気軽にご相談ください。
パワーエレクトロニクス回路の故障対策・寿命診断技術と信頼性向上への応用 ＜オンラインセミナー＞
講師の言葉
２０５０年には最終消費エネルギーに対する電気エネルギーの割合(電力化率)は５０％を超えると予想されております。これに伴いパワーエレクトロニクスの需要がさらに拡大し、小型化・低コスト化だけでなく信頼性の向上が急務になっております。パワーエレクトロニクス回路内の故障要因はパワー半導体デバイスとキャパシタだけでその過半数を占めており、これらの故障対策と寿命診断が必要不可欠です。この実現には、パワー半導体デバイスとキャパシタの個別部品レベルではなく、回路レベルでの特性を正確に捉えることが必須です。
本セミナーでは、パワーエレクトロニクス回路の故障対策・寿命診断を回路レベルの視点からアプローチした技術について、パワーエレクトロニクス回路、パワー半導体デバイス、キャパシタの基礎と共に紹介します。
セミナー詳細
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | オンラインセミナー |
| カテゴリー | オンラインセミナー、電気・機械・メカトロ・設備、品質・生産管理・ コスト・安全 |
| 受講対象者 |
・パワーエレクトロニクス機器・パワー半導体の研究・開発に関わる技術者の方 ・電気自動車、鉄道車両などパワーエレクトロニクスを導入している技術者の方 ・パワーエレクトロニクス・省エネルギー技術に関心のある研究機関の方 |
| 予備知識 |
・パワーエレクトロニクスの基礎から説明しますが、電気回路・電子回路について予備知識があると理解が深まります |
| 修得知識 |
・パワーエレクトロニクスの回路構成と基礎計算手法 ・パワー半導体デバイスの信頼性向上に向けた現時点での課題と対策 ・キャパシタの信頼性向上に向けた現時点での課題と対策 |
| プログラム |
１．パワーエレクトロニクスの基礎 ２．パワー半導体デバイスの信頼性と寿命診断技術 ３．キャパシタの信頼性と対策技術 |
| キーワード |
パワーエレクトロニクス チョッパ回路 インバータ パワー半導体デバイス ダイオード IGBT ノイズ誤点呼メカニズム ノイズ耐性試験 キャパシタ 損失測定 コンディションモニタリングLCLフィルタ |
| タグ | 寿命予測、信頼性試験・故障解析、パワーデバイス、回路設計、LSI・半導体 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
オンラインセミナー本セミナーは、Web会議システムを使用したオンラインセミナーとして開催します。 |
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