～ 故障シミュレーションと自動テストパターン生成、テスト容易化設計、故障診断と故障解析、デバイスの劣化とソフトエラー、半導体デバイスにおけるセキュリティ ～
本セミナーは日程とプログラムが変更となりました。
・微細化、大規模化、高機能化、低電力化が進むＶＬＳＩを短時間で確実にテストする技術を修得する講座
・論理回路とメモリ回路を対象に故障モデルとテストパターン、テスト容易化設計などの基礎的なテスト技術を修得し、信頼性の高い製品開発へ活かそう！
・デバイスの劣化や機能安全、セキュリティなど、テストに関わる最新技術についても解説します
・ＷＥＢ会議システムの使い方がご不明の方は弊社でご説明いたしますのでお気軽にご相談ください。
ＶＬＳＩが様々な機器に使用されている中で，その品質保証の重要性が高まってきています。
本講義では、ＶＬＳＩの品質保証に重要な役割を果たすテスト(故障検査)について講義します。ＶＬＳＩのテストは、製造したチップの良品と不良品を判別する作業で、製造工程の中で行われますが、設計・製造のどちらの工程にも関わります。微細化が進み、大規模化、高機能化、低電力化するＶＬＳＩに対して短時間で確実にテストするためには，どのようにテストするかに加え、設計段階からテストのことを考える必要があり、ＶＬＳＩをテストに適した構成となるように設計することも重要になります。
本講義では、まず、テストの位置づけや信頼性・コストとの関わりなどの基本的な概念を説明し、次に論理回路とメモリ回路を対象に故障モデルとテストパターン、テスト容易化設計などの基礎的なテスト技術について講義します。更にはデバイスの劣化や機能安全、セキュリティなど、テストに関わる最近の話題についても紹介します。
本講座は、日程とプログラムが変更になりました。
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | オンラインセミナー |
| カテゴリー | オンラインセミナー、電気・機械・メカトロ・設備、品質・生産管理・ コスト・安全 |
| 受講対象者 |
・ＶＬＳＩのテスト技術の基礎知識を身につけたい方、ＶＬＳＩの設計やテストに従事しようとするエンジニアの方 ・論理回路や半導体メモリ等のデジタルICやASIC、 SoCなどの設計やテストに関わるエンジニアの方 |
| 予備知識 | ・論理回路の基本について、ANDゲート、ORゲート、NOTゲートなどの論理ゲートの機能の知識が必要です。 |
| 修得知識 | ・ＶＬＳＩの設計・製造におけるテストの役割や品質保証の考え方の知識が身につきます。また、回路の設計に役立つテストに関わる様々な知識を身につけることができ、また、低消費電力化や機能安全に対応する技術を修得できます。 |
| プログラム |
１．ＶＬＳＩテストの基礎 ３．メモリデバイスのテスト技術 ４．テストの最新技術 （ホットトピックス） |
| キーワード | ＶＬＳＩ 論理回路 故障モデル ＡＴＰＧ テストパターン テスト容易化設計 テスタビリティ尺度 スキャン設計 論理回路用ＢＩＳＴ 故障診断 故障解析 故障モデル テストアルゴリズム メモリBIST リペア 消費電力 オンラインテスト |
| タグ | セキュリティ・暗号、検査、信頼性試験・故障解析、品質管理、組み込みソフト、FPGA、LSI・半導体 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
オンラインセミナー本セミナーは、Web会議システムを使用したオンラインセミナーとして開催します。 |
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営業時間 月~金：9:00～17:00 / 定休日：土日・祝日
