微細化に対応するためのリソグラフィー技術の基礎とレジスト評価のポイント <オンラインセミナー>

~ G線、I線、KrF、ArF、ArF液浸、EUVリソグラフィー技術と評価、ナノインプリント技術、DSA技術 ~

・リソグラフィー技術を体系的に学び、半導体の微細化、高集積化に対応するための修得講座

・プロセスの最適化技術に有用なレジスト評価技術と最新のリソグラフィー技術を修得し、より微細化が求められている電子デバイスの開発に応用しよう!

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講師の言葉

 フォトリソグラフィーの歴史は、約40年になります。g線レジストから始まり、i線、KrF、ArF、ArF液浸、EUVと世代が交代し、現在、最先端デバイスは、EUVリソグラフィー技術を用いて、10nmレベルのパターニングにより作られます。
 本講座では、フォトリソグラフィーの歴史を紐解きながら、各世代のリソグラフィーの特徴と、レジスト開発、プロセスの最適化技術に有用なレジスト評価技術について解説します。

セミナー詳細

開催日時
  • 2022年04月19日(火) 10:30 ~ 17:30
開催場所 オンラインセミナー
カテゴリー オンラインセミナー電気・機械・メカトロ・設備
受講対象者 ・リソグラフィーを担当している技術者、研究者の方で初学者から中堅クラスの方
・半導体、ディスプレイ、MEMS、センサ、太陽電池などのデバイス開発、製造に携わる方
予備知識 ・工学系の高校、専門学校、大学の卒業レベルの知識
修得知識 ・リソグラフィー技術と特徴
・露光技術、レジスト技術およびレジスト評価技術の概要
プログラム

1.リソグラフィー技術の概要
  (1).リソグラフィー技術の基礎
  (2).光学の基礎的な原理
  (3).露光装置の開発の変遷
  (4).レジスト材料の開発の変遷

2.G線、I線リソグラフィー技術(ノボラックレジスト)の概要と評価
  (1).ノボラックレジストの基礎
  (2).ノボラックレジストの評価(1) 分子量分布の影響
  (3).ノボラックレジストの評価(2) 分画化レジストとフェノール添加

3.KrFリソグラフィー技術(PHS系レジスト)の概要と評価
  (1).KrFリソグラフィーの基礎
  (2).PHSレジストの概要
  (3).KrFレジストの評価1 脱保護反応の評価
  (4).KrFレジストの評価2 露光中のアウトガスの評価
  
4.ArFリソグラフィー技術(アクリル系レジスト)の概要と評価
  (1).ArFリソグラフィーの基礎
  (2).アクリル系レジストの概要
  (3).ArFレジストの評価1 現像中の膨潤の評価
  (4).ArFレジストの評価2 PAGから発生する酸の拡散長の評価
  (5).ArF液浸リソグラフィーの基礎
  (6).ArF液浸レジストの評価1 液浸液のレジスト膜中への浸透の評価
  (7).ArF液浸レジストの評価2 PAGから発生する酸のリーチングの評価
  (8).ArF液浸レジストの評価3 リソグラフィー・シミュレーションによる検討

5.EUVリソグラフィー技術の概要と評価
  (1).EUVリソグラフィーの基礎
  (2).EUVレジストの概要
  (3).EUVレジストの評価1 アウトガスの評価
  (4).EUVレジストの評価2 EUVレジストの高感度化の検討

6.次時世代リソグラフィーの概要
  (1).ナノインプリント技術
  (2).DSA技術

キーワード リソグラフィー 露光装置 レジスト材料 G線 I線リソグラフィー技術 ノボラックレジスト 分画化レジスト フェノール添加 KrFリソグラフィー技術 PHS系レジスト ArFリソグラフィー技術 アクリル系レジスト PAG  EUVリソグラフィー ナノインプリント DSA
タグ 電子部品LSI・半導体
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
オンラインセミナー
本セミナーは、Web会議システムを使用したオンラインセミナーとして開催します。
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