画像特徴量の抽出と物体検出・物体追跡技術およびその応用

〜ステレオ画像、多視点画像、2次元、3次元画像処理、自己位置推定と地図生成(SLAM)、3次元復元(SfM) 〜

・カメラを用いた3次元センシングのための基礎技術と最新事例を解説する講座

・一段を高精度化している画像センシングの主要技術を修得し、製品やシステムへ応用しよう!

講師の言葉

 カメラによる撮影は、3次元のシーン情報を2次元の画像情報に変換する作業であると言えます。得られた2次元の画像情報から3次元のシーン情報を復元することは一般的には簡単ではありませんが、同時に2台のカメラを用いて撮影して取得したステレオ画像や、ロボットなどの移動体に搭載したカメラを用いて撮影した多視点画像を用いることで、シーンの3次元情報を獲得することができます。
 本セミナーでは、カメラを用いた3次元センシング技術を中心として、その基礎となる画像特徴量の抽出と物体検出・物体追跡などに関して、基礎から応用まで分かり易く説明します。
 最初に、画像処理・コンピュータビジョンの基礎、カメラ撮影の定式化・モデル化について最初に解説します。次に、特徴抽出、物体検出、物体追跡などの2次元画像処理技術について説明します。続いて、ステレオ計測、エピポーラ幾何など3次元画像処理技術の基礎について説明すると同時に、3次元センシングの実例として、自己位置推定と地図生成(SLAM)、単眼カメラによる3次元復元(SfM)などについて解説します。最後に、最新事例紹介や今後の展望について紹介します。

セミナー詳細

開催日時
  • 2015年04月01日(水) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 電気・機械・メカトロ・設備ソフト・データ・画像・デザイン
受講対象者 ・画像特徴量の抽出と物体検出・物体追跡に興味のある方 ・画像センシングに興味のある方 ・カメラを用いた3次元センシングに興味のある方 ・映像・画像・ロボット・情報機器関連の技術者・研究者
予備知識 ・特に必要ありません
修得知識 ・画像処理の基礎 ・画像特徴量の抽出、物体検出、物体追跡の基礎 ・3次元センシングを中心とした計測技術
プログラム

1. はじめに
 (1). 画像センシングの概要
 (2). 役に立つ情報源

2. 画像センシングの基礎
 (1). 画像処理・コンピュータビジョンの基礎
 (2). カメラの基礎
 (3). 2次元画像処理の基礎
 (4). 3次元画像処理の基礎

3. 3次元センシングのための画像特徴量の抽出と物体検出・物体追跡
 (1). 画像特徴量とは
 (2). 画像特徴量の抽出
 (3). テンプレートマッチング
 (4). 物体堅守通
 (5). 物体追跡

4. カメラを用いた3次元センシングの基礎
 (1). カメラ撮影の幾何
 (2). ステレオ計測
 (3). エピポーラ幾何

5. 3次元センシングの応用技術・実例
 (1). Simultaneous Localization and Mapping (SLAM)
 (2). Structure from Motion (SfM)

6. おわりに
 (1). 最新事例紹介
 (2). 今後の展望

キーワード 画像特徴量 物体検出 物体追跡 画像センシング テンプレートマッチング ステレオ計測 エピポーラ幾何 SLAM SfM
タグ イメージセンサカメラ画像画像処理画像認識ロボット自動車・輸送機車載機器・部品
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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