１．半導体のテストについて

　　（１）．半導体のライフサイクルにおけるテストとその意義

　　（２）．テストの種類とテスト装置

　　（３）．テストコストとテスト品質

２．製造テストの基礎

　　（１）．接続テスト

　　　　ａ．オープンテスト

　　　　ｂ．ショートテスト

　　（２）．ファンクションテスト

　　　　ａ．論理回路のファンクションテスト

　　　　ｂ．メモリのファンクションテスト

　　　　ｃ．アナログ回路のファンクションテスト

　　（３）．パラメトリックテスト

　　　　ａ．ＤＣパラメトリックテスト

　　　　ｂ．ＡＣパラメトリックテスト

３．テスト設計技術の基礎

　　（１）．テスト生成技術

　　　　ａ．故障モデル

　　　　ｂ．故障シミュレーション

　　　　ｃ．テストパターン生成

　　（２）．テスト容易化設計技術

　　　　ａ．スキャン設計

　　　　ｂ．組込み自己テスト

４．品質保証と品質管理

　　（１）．品質保証

　　　　ａ．半導体の品質保証

　　　　ｂ．初期品質と信頼性

　　　　ｃ．信頼性の指標

　　（２）．品質管理

　　　　ａ．半導体の品質管理

　　　　ｂ．ストレステストによるスクリーニング

５．品質保証へのテスト技術の応用とそのポイント

　　（１）．品質保証へのテスト技術の応用

　　　　ａ．品質保証とテスト技術

　　　　ｂ．テスト技術による初期品質の保証

　　　　ｃ．テスト技術による信頼性の保証

　　（２）．テスト技術の応用のポイント

　　　　ａ．初期品質保証のためのポイント

　　　　ｂ．信頼性保証のためのポイント

６．まとめ