半導体光源・発光デバイスの基礎と応用および故障解析と高信頼化技術　＜オンラインセミナー＞

講師の言葉

（第一部）
　今日、半導体レーザーや発光ダイオード（LED）の役割はますます大きくなっており、光通信ネットワーク、センサー、医療・バイオなど、さまざまな分野で応用が広がっています。本セミナーでは、半導体レーザーやLEDの動作原理や特性、さらには半導体の光物性の基礎について学び、これらがどのように多様な産業分野で実用化されているかを幅広くカバーします。特に、半導体材料の理解がこれらのデバイスを理解するために重要であるため、半導体の光物性についても扱います。また、各応用分野に関連する技術的な側面についても学びます。
　数式の使用は最小限にとどめ、半導体や光学分野の専門外の方でも視覚的に理解できるように丁寧に解説します。本セミナーは、半導体レーザーやLEDの開発やその応用分野に携わろうとしている初心者の方、またはこれらの分野の基礎知識や最新の研究・開発動向を集中的に習得したい方に最適です。

（第二部）
　半導体レーザ・発光ダイオードなどの半導体発光デバイスは、大中容量ファイバ通信システム用の光源のみならず、オーディオ/ディジタルシステムなどの民生機器用光源や光プリンタ用光源、最近では、医療用小型光源、各種センサー、さらには、白色ＬＥＤをベースにした各種照明、ディスプレイなど極めて多岐にわたる領域に用いられており、その材料・構造も多種多様となっています。そのため、高性能で信頼性の高い製品を開発するには、発光デバイスの信頼性向上が重要な鍵を握っているといっても過言ではありません。しかし、その故障（劣化）の原因を解析・究明するためには、経験に基づいた知識を持ち、かつそれをうまく応用できる技術者が不足しているため、より信頼性の高いデバイスを開発・供給できないのが実情です。そこで、今回は、こうした発光デバイスの高信頼化の鍵を握る劣化解析および劣化解析事例について、本講師の永年にわたる豊富なデータに基づいて、デバイスの各種信頼性試験と寿命予測、信頼性解析のフローチャートと要素技術、解析する際の留意点などについて触れ、講義の中核の事例では、発光デバイスの基本的な劣化解析事例や派生的な劣化の解析事例および劣化の抑制方法を示します。今回は、LD、赤外LED、GaN系青色・紫外LED、さらには最近爆発的に需要が伸びているVCSEL（面発光レーザ）の技術動向および信頼性研究の最新情報に焦点を当て、各種劣化モードの事例を示しながら、詳しく解説致します。

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