～ 発光デバイスにおける３種類の劣化モード、故障（劣化）解析事例、劣化低減への方策 ～
・講師の永年にわたる豊富なデータに基づいたVCSELチップ、VCSEL搭載モジュールの信頼性向上のためのポイントやノウハウを修得するための講座
・発光デバイスの高信頼化の鍵を握る劣化解析や劣化メカニズムを修得し、劣化対策技術に活かし、信頼性の高い製品開発に応用しよう！
面発光レーザ（VCSEL）の故障解析と寿命予測および信頼性向上のポイント
講師の言葉
半導体レーザ・発光ダイオードなどの半導体発光デバイスは、大中容量ファイバ通信システム用の光源のみならず、オーディオ/ディジタルシステムなどの民生機器用光源や光プリンタ用光源、最近では、医療用小型光源、各種センサー、さらには、白色ＬＥＤをベースにした各種照明、ディスプレイなど極めて多岐にわたる領域に用いられており、その材料・構造も多種多様となっています。そのため、高性能で信頼性の高い製品を開発するには、発光デバイスの信頼性向上が重要な鍵を握っているといっても過言ではありません。しかし、その故障（劣化）の原因を解析・究明するためには、経験に基づいた知識を持ち、かつそれをうまく応用できる技術者が不足しているため、より信頼性の高いデバイスを開発・供給できないのが実情です。
今回は、特に、ここ10数年にわたり用途が爆発的に広がりつつあるVCSEL（面発光レーザ）に焦点を当てます。講義では、まず、VCSELの最近の開発動向および多岐にわたる用途について紹介します。次いで、発光デバイスの高信頼化の鍵を握る劣化解析技術および基本的な劣化メカニズムについて、本講師の永年にわたる豊富なデータに基づいて、分かりやすく講義します。さらに、VCSELを中心とした、デバイスの各種信頼性試験、信頼性解析のフローチャートと要素技術、解析する際の留意点などについて詳しく学んでいただきます。最後に、VCSELの弱点、VCSEL固有の劣化メカニズム、さらには、VCSELチップ信頼性向上、VCSEL搭載モジュールの信頼性向上のためのポイント（ノウハウ）、について事例を挙げながら詳しく講義します。
セミナー詳細
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
| カテゴリー | 品質・生産管理・ コスト・安全 |
| 受講対象者 |
・半導体発光デバイス、特にVCSELの研究、開発、設計、製造、信頼性試験・解析に従事している方 ・VCSELを搭載した各種機能部品、光モジュール、さらに関連する光マイクロエレクトロニクス、光学関連材料、光実装の関連分野の方 |
| 予備知識 | ・半導体発光デバイスの研究、開発、設計、製造、半導体材料技術、信頼性評価に関する一般的な知識 |
| 修得知識 | ・発光デバイス、特にVCSELの劣化メカニズムを把握し、劣化要因低減の方策が得られ、製品の高信頼化を図っていくことができます |
| プログラム |
１．VCSELの技術動向 ２．発光デバイスの基本特性と寿命試験（VCSELを中心として） ３．発光デバイスの故障（劣化）解析技術 ４．発光デバイス材料の課題 ５．発光デバイスの故障（劣化）解析事例 ６．VCSELの信頼性 ７．劣化低減への方策：メーカの取り組み方 |
| キーワード | 発光デバイス VCSEL 信頼性 劣化 急速劣化 遅い劣化 頓死 寿命試験 高温高湿試験 バーンイン ESD 外観検査 故障解析 解析フローチャート EL像 SEM TEM FIB 化合物半導体 結晶成長 MOCVD 薄膜 活性層 結晶欠陥 転位 歪 |
| タグ | 寿命予測、信頼性試験・故障解析、光学、電子部品、LED・有機EL・照明、LSI・半導体 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿２－７－１ 新宿第一生命ビルディング（２２階）- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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