的確な電子部品の短期信頼性評価法とそのポイント

~ 構造解析と良品解析、的確に短時間で信頼性を評価する加速試験法、田口メソッドによる機能性評価試験法 ~

・短期間で確実に信頼性・安全性が保証された部品を採用し、応用するための講座
・非破壊評価法と従来あまり顧みられなかった品質工学(タグチメソッド)の機能性評価法を修得し、信頼性保証に活かそう!

講師の言葉

 消費者が家電製品や電子・電気機器を使用するとき最も基本的に要求することは性能のみならず信頼性と安全性である。最近はグローバル化によって電子・電気製品に使われる部品も国際化し、国内製品はもとより広く海外から部品を調達することは当たり前の時代になっている。安くて入手しやすく、かつ品質・信頼性がある部品をいかに短期間に的確に採用するかは企業にとって重要な課題である。
 そこで、本セミナーでは主に電子・電気部品を評価・採用する部門の技術者・担当者を対象に、部品の信頼性をいかに短期間にかつ的確に評価するかを信頼性の基礎から遡り、紹介する。この中で注目すべきは非破壊評価法と従来あまり顧みられなかった品質工学(タグチメソッド)の機能性評価法を信頼性評価に導入する方法を事例を交えて基礎から学ぶ

セミナー詳細

開催日時
  • 2019年08月08日(木) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 電気・機械・メカトロ・設備品質・生産管理・ コスト・安全
受講対象者 ・部品の信頼性評価担当者、信頼性設計評価者
・品質保証部門の担当者
・調達・購買部門の技術スタッフ
予備知識 ・信頼性工学、品質保証、信頼性評価試験、品質工学の基礎などがあると分かりやすい
修得知識 ・部品の的確な信頼性評価法、部品の故障メカニズム、構造解析(良品解析)、部品の試験規格、タグチメソッドによる機能性評価
プログラム

1.信頼性の基礎と認定評価
  (1).信頼性の歴史概観
    a.信頼性に関する用語(JIS Z 8115-2000)
    b.部品を中心とした信頼性試験規格の歴史
     ・JIS規格について
     ・MIL規格について
     ・IEC規格について
    c.加速試験に関する国際規格:IEC62506
    d.部品調達の変遷と信頼性評価
  (2).調達部品の認定評価の考え方
    a.製品の開発ステップと使用部品の決定
    b.信頼性評価試験の問題点
    c.調達部品の状況
    d.具体的にはどのように検討したら良いか

2.部品の故障メカニズム
  (1).温度ストレスによる故障
    a.反応速度論とアレニウスモデル
    b.温度に関する経験則:Θ℃半減則
    c.温度に関する経験則:ベキ乗則(α乗則)
    d.複合ストレスモデル:アイリングモデル
    e.温度ストレスによる故障事例
     ・パープル・プレイグ、Fickの法則、カーケンダル効果
     ・金属間化合物
     ・熱疲労現象
  (2).湿度ストレスによる故障
    a.湿り空気線図
     ・水蒸気圧、相対湿度、絶対湿度、
    b.湿度ストレスの寿命モデル式:Vapor Pressure Model
    c.湿度ストレスによる故障事例
     ・金属の腐食
     ・標準電極電位系列
     ・アノード反応(酸化反応)、
      カソード反応(還元反応)
     ・アルミ電解腐食現象
     ・ガルバニック腐食
     (異種金属接触腐食、局部電池腐食)
     ・イオンマイグレーション
     (エレクトロ・ケミカル・マイグレーション)
  (3).物理化学的ストレスによる故障
    a.エレクトロ・マイグレーション
    b.ストレス・マイグレーション
    c.ウイスカ現象
    d.ホットキャリアによる特性劣化現象
  (4).放射線による故障
     ・α線によるソフトエラー
  (5).機械的ストレスによる故障
    a.応力集中による故障
    b.環境応力割れ(ESC)
    c.環境応力腐食割れ(ESCC)
    d.繰り返し応力による疲労破壊
     ・マイナー則、S-N曲線、一般化マイナー則

3.短期間にかつ的確に評価する方法
  (1).構造解析と良品解析
    a.構造解析の手順
    b.目視検査(Visual Test)
    c.初期特性検査
    d.内部観察(非破壊検査)による解析
     ・事例1:アルミ電解コンデンサの例
     ・事例2:フィルムコンデンサの例
     ・事例3:ICの例
     (ボンディングワイヤー、ダイのボイド)
     ・X線CT画像による解析事例
     ・超音波探傷装置による解析事例
     ・赤外線カメラによる解析事例 
     ・アコースティック・エミッションによる
      解析事例
    e.内部観察(開封・破壊検査)による解析
     ・良品解析的開封方法とその他の開封方法
     ・イオンミリング装置による断面研磨
     ・FIB(Focused Ion Beam)装置による解析
     ・応力集中に故障解析事例
     ・EBテスターによる解析
     ・液晶による解析
     ・SEM(走査型電子顕微鏡)による解析
     ・透過型電子顕微鏡による解析
     ・原子吸光分析装置による解析
    f.関東地方の代表的公的検査機関
  (2).的確に短時間で信頼性を評価する加速試験法
    a.限界試験とステップ・ストレス試験
    b.超加速試験法
     ・HST、THB、HAST
    c.超加速複合試験法
     ・HALT、HASS、HASA
  (3).田口メソッドによる機能性評価試験法
    a.機能性評価法とは
    b.機能性評価に関する主な用語
     ・直交表
     ・要因効果図
     ・静特性と動特性
    c.機能性評価法の手順
    d.実際の計算事例

4.まとめ
  (1).調達部品の信頼性評価の手順
  (2).RACER法による意思決定
  (3).本日のセミナーの復習
  (4).Q&A

キーワード 調達部品 アレニウスモデル アイリングモデル パープル・プレイグ Fickの法則 カーケンダル効果 ガルバニック腐食 イオンマイグレーション ホットキャリア 環境応力腐食割れ 非破壊検査 開封・破壊検査 加速試験法 限界試験 ステップ・ストレス試験 田口メソッド
タグ 信頼性・故障解析品質管理品質工学電子部品LSI・半導体
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 小田急第一生命ビル(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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