電子部品の信頼性試験と市場故障率の推定および品質保証への活かし方 ~演習付~

~ 信頼性試験結果の解析手順、信頼性の作り込み、試験結果からの寿命予測、検査結果に対する管理基準の調整 ~

・「耐用年数を満足していることを検証する信頼性試験計画」と「市場故障率の推定法」を修得し、製品の信頼性確保に活かすための講座
・信頼性試験計画と実施および試験結果の解析を適用に行ない、市場品質や耐用寿命に対応した製品設計の品質保証へ活かそう!

講師の言葉

 システムに期待される使用期間の範囲において、故障なく稼働し続けるために必要になる信頼性目標を明確にし、その目標値を達成できる信頼性を有することを検証する信頼性試験を計画します。
 試験計画は、量産に向けた品質保証のための信頼性検証方法として、耐用寿命を調べる信頼性試験の進め方と、市場品質に影響を与える初期故障率の推定方法に分けて解説します。さらに、そのようにして得られた試験結果の、製品の品質保証への活用について考察します。

セミナー詳細

開催日時
  • 2019年07月12日(金) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 電気・機械・メカトロ・設備品質・生産管理・ コスト・安全
受講対象者 ・信頼性設計、信頼性評価実験、およびその情報に基づく品質保証業務に携わっている技術者の方
・一定条件の信頼性試験の有効性に疑問を抱いている方
予備知識 ・JIS Z 8115 の信頼性用語の定義に、一度は目を通したことのある方が望ましい
修得知識 ・システムに期待される耐用年数を満足していることを検証する、信頼性試験計画を立案することが出来るようになる
・市場品質に影響する、市場故障率を推定することが出来るようになる
・市場品質、耐用寿命を考慮した設計を支援し、検査条件、検査規格の最適化、検査結果の管理基準を調整することが出来るようになる
プログラム

1.信頼性用語
  (1).IEC-60050-192
  (2).JIS-Z-8115

2.信頼性試験結果の解析手順
  (1).累積故障確率F(t)
    a. 試料数と故障数で導かれるF(t)
    b. ワイブル分布のF(t)
  (2).累積ハザードH(t)
    a. 試料数と故障数で導かれるH(t)
    b. ワイブル分布のH(t)
    c. F(t)とH(t)の使い分け 
  (3).確率紙による信頼性データ解析
    a. ワイブル確率紙による信頼性データ解析
    b. 累積ハザード紙による信頼性データ解析
    c. 正規分布と対数正規分布
  (4).確率モデルを考慮した信頼性データ解析
    a. 尤度関数と対数尤度
    b. 最尤推定による最適モデル選択

3.信頼性の作り込み
  (1).信頼性を高めるための設計手法
    a. 質的(定性的)加速試験の適用
    b. HALTの概要と活かし方
    c. 頑健性(ロバスト性)、余裕度と信頼性
  (2).検査と信頼性
    a. 寿命分布と検査
    b. 検査で作り込む耐用寿命

4.信頼性試験計画(摩耗故障の寿命分布)
  (1).信頼性試験に必要な事前情報
    a. 4M情報
    b. 製造工程のストレス履歴
    c. 通電ストレスと印加時間
    d. 製造工程におけるストレス強度の実使用換算
    e. 動作条件
    f.使用環境情報(ミッションプロファイル)
    g.故障1件の発生確率
  (2).加速モデルを調べるための信頼性試験計画
    a. 定ストレス試験に基づくモデル選択
    b. ステップストレス試験結果からのモデル選択
    c. 加速モデルからの寿命推定
  (3).製品使用環境に対する信頼性適合試験計画
    a. 試験条件における耐用寿命
    b. 信頼度を検定するための試料数
    c. 計数抜取信頼性試験の試験時間
    d. 計量抜取信頼性試験の試料数と試験時間
  (4).試験結果からの寿命予測
    a. 計数抜取試験結果からの寿命予測
    b. 計量抜取試験結果からの寿命予測

5.市場故障率推定(初期故障の寿命分布)
  (1).製造工程における検査結果の解析
    a. 製造工程のストレス履歴と
       検査不良率の累積ハザード解析
    b. 出荷後の耐用寿命経過までの市場不良率
    c. 市場の平均故障率推定
    d. 信頼性試験結果から導かれる期待故障率との比較
  (2).検査結果に対する管理基準の調整
    a. 市場故障率の許容範囲
    b. 市場故障率を維持するための工程の不良率限界
    c. 工程性能指数、工程能力指数への反映

6.製品の品質保証への活用、その他
  (1).製品の品質保証への活用
  (2).公的な信頼性試験規格と講座内容の共通点と相違点
  (3).これからの信頼性検証への期待

キーワード IEC-60050-192  JIS-Z-8115 累積故障確率 ワイブル分布 信頼性データ解析 加速試験 HALT 寿命分布 耐用寿命 信頼性試験計画 寿命予測 市場故障率
タグ 検査寿命予測信頼性・故障解析品質管理車載機器・部品電子部品
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 小田急第一生命ビル(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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