信頼性加速試験の基礎とExcelによる寿命データ解析・信頼性予測への活用ポイント 〜1人1台PC実習付〜

〜 加速寿命データ解析に必要な基礎的事項、確率プロットの手順と信頼性予測の方法 〜

・演習を通して、寿命データ解析による信頼性予測ができるようになるための講座
・加速寿命試験と寿命データ解析手法をマスターし、製品の信頼性向上に活かそう!
・寿命データ解析で確率プロットが直線にのらない場合の対処法も解説します

*PCは、弊社でご用意いたします
*Excelテンプレートと演習中に作成したファイルは持ち帰って、有効に活用できます

 (USBメモリをご持参ください。ご持参が難しい場合は、別途対応いたしますので、ご連絡ください)

講師の言葉

 信頼性試験では加速寿命試験は必須である。加速寿命試験では対象や目的ごとに加速手段は異なるが、基本的には温度、電圧・電界、電流(密度)、湿度、熱・機械的ストレス、などによる加速が行われる。
 本セミナーでは、まず、加速寿命試験と加速寿命データ解析の基礎を講義する。その後、加速寿命試験の結果得られる寿命データの解析の仕方を講義し、演習する。実際にMicrosoft Excelで寿命データ解析ができるところまで解説する。また、解析結果を元にした信頼性予測法を紹介する。基礎的な寿命データ解析ができる段階まで解説した後、応用編として、確率プロットが直線にのらない場合の対処法と半導体デバイスを対象とした解析の事例を紹介する。後者としてはIRPS (信頼性物理国際会議) の論文を対象に調査した結果、寿命の短時間側の裾から中央までの分布を効率的に評価した事例を紹介する。最後に使いものになるまで演習を行う。
 受講者自身のデータを持参すると演習中にそれを解析することもできます。理解が不十分でも解析できるように、Excelのテンプレートも提供します。Excelテンプレートと演習中に作成したファイルは持ち帰って、有効に活用できます。

セミナー詳細

開催日時
  • 2016年08月25日(木) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 品質・生産管理・ コスト・安全
受講対象者 ・電子部品、半導体デバイスの信頼性担当者 ・寿命加速試験や信頼性予測に関連した業務に携わる技術者、研究者
予備知識 ・特に必要ありませんが、基本的な統計の概念を理解していることが望ましい ・Excelの基本操作を習得していることが望ましい
修得知識 ・加速寿命試験の基礎が理解できる ・寿命データが通常のデータとどこが違うのかが理解できる ・寿命データ解析法の基礎が修得できる ・信頼性予測法の基礎が修得できる ・寿命データを解析できるようになる ・信頼性予測ができるようになる
プログラム

1.加速寿命試験の基礎
  (1). 温度・電流密度・湿度・電圧・電界加速
  (2). 律速過程
  (3). ストレス強度モデル
  (4). マイナー則
  (5). 製品での評価とTEG(試験専用構造)での評価
  (6). 信頼性試験項目と試験条件の例
  (7). 抜取り試験:OC曲線と試験規模

2.加速寿命データ解析に必要な基礎的事項
  (1). 少数サンプルの危険性
     a.ワイブル分布と対数正規分布は少数サンプルでは見分けが付かない!
  (2). バスタブカーブ
     a.デバイス全体としての分布をみる
  (3). 寿命データの種類、解析の目的、解析法の種類
  (4). 寿命データ解析に必要な確率・統計の基礎的概念・用語
     a.サンプリング
     b.信頼性の指標
     c.重要な3分布(指数、ワイブル、対数正規)

3.寿命データ解析の基礎
  (1). 寿命データ解析の位置付けと本講義で扱う範囲
  (2). 寿命データ解析と信頼性予測に必要な寿命分布
  (3). 寿命データ解析法
  (4). 信頼性予測法

4.Microsoft Excelを使った寿命データ解析と信頼性予測
  (1). Microsoft Excelによる確率プロットの手順
  (2). Microsoft Excelによる信頼性予測

5.応用編
  (1). 確率プロットで直線にならない場合
  (2). IRPS (信頼性物理国際会議) にみる寿命データ解析の使われ方
  (3). 分布の裾から中央までの効率的評価解析法 : 0.0065%〜55.6%をカバー

6.演習
  (1). Microsoft Excelを使った寿命データ解析と信頼性予測

キーワード 加速寿命試験 寿命データ解析 ストレス強度モデル 抜取り試験 ワイブル分布 バスタブカーブ
タグ 寿命予測信頼性試験・故障解析品質管理パワーデバイスはんだプリント基板基板・LSI設計電子機器電子部品電装品LSI・半導体
受講料 一般 (1名):50,600円(税込)
同時複数申込の場合(1名):45,100円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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