〜確率の基礎、尤度と分布、ベイズの基礎、ベイズ非線形識別器、特徴選択法、ベイズを活用した応用事例〜
- ベイズの原理とアルゴリズムについて、事例とデモを交えて解説する講座!
- ベイズ推定・識別の基礎から応用事例を通して習得し、データや画像の認識、解析に活かそう!
〜確率の基礎、尤度と分布、ベイズの基礎、ベイズ非線形識別器、特徴選択法、ベイズを活用した応用事例〜
ベイズ推定はその理論的な基礎も体系化されてきている。しかしながら、そのバックグラウンドとなる分野が、工学、統計学、情報学などに関連し、分かりやすい説明がなされることが少ない。
本講座では、代表的なパラメトリック手法であるベイズ識別器の原理と識別器作成のアルゴリズムを解説する。さらにベイズ推定の応用事例を紹介することにより、より深く理解し、実際の計測等に適用する方法を実感できる。また、識別系の評価法と特徴選択法についても、その基本的な概念を習得することができる
開催日時 |
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開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
カテゴリー | ソフト・データ・画像・デザイン |
受講対象者 | ・ベイズ推定技術の習得を目指す技術者、情報処理技術者で基礎から習得したい方 ・ベイズ推定を用いた計測等の応用技術を習得したい方 |
予備知識 | ・初等的な線形代数学(行列と行列式程度)の知識 ・統計の入門知識(ガウス分布、分散、標準偏差の意味がわかる程度) |
修得知識 | 1.ベイズ推定の基本的な理解 (尤度、事前分布、事後分布、予測分布、ベイズの定理、過学習の理解) 2.ベイズ識別モデルの作成方法 3.識別系の評価法・特徴選択法 4.ベイズ推定の応用事例 |
プログラム |
1. ベイズ推定の基礎
2. ベイズ推定の活用法 |
キーワード | ベイズ 事前分布 事後分布 予測分布 パラメトリック手法 線形識別器 特徴選択法 機械学習 多変量解析 深層学習 |
タグ | 信号処理、データ解析、画像認識 |
受講料 |
一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込) |
会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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