SiCデバイスの信頼性確保と試験方法の留意点および国際規格動向 <オンラインセミナー>

~ 電気自動車向けの SiCデバイスの品質向上、信頼性確保のための信頼性試験方法と留意点、今後の国際規格動向 ~

・EVHV向けにも搭載されるSiCデバイスの信頼性を確保するための国際標準化規格を先取りし、高品質な製品開発に活かす講座

・SiCデバイスの試験方法のポイントを修得し、信頼性と品質を向上させ、欠陥品を生み出さないようにするためのセミナー! 

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講師の言葉

 Si デバイスに代わり、急激に普及が進むSiCデバイスは、鉄道向けから採用が始まり、今後は車載EV、HV向けに継続的な発展が期待されています。ただし新規材料で作られているSiCデバイスには、Siデバイスでは見られない品質、信頼性の課題があり、各国で基礎評価データの取得と国際標準化規格化が進められています。

 そこで本講義では、ようやく全体像が見えてきたSiCデバイス特有の信頼性の課題と、それを確実に評価するために、最近リリースされたJEDEC、JEITAのSiCの信頼性試験方法規格を中心に、なぜその評価が必要で、具体的にどの様な評価を行う必要かあるかについて、そのメカニズムから、試験を実施するときの留意点を含めて詳細に解説します。また現在、各国で議論されている今後の規格動向についても説明します。

セミナー詳細

開催日時
  • 2024年09月12日(木) 10:30 ~ 17:30
開催場所 オンラインセミナー
カテゴリー オンラインセミナー品質・生産管理・ コスト・安全
受講対象者 ・これからSiCデバイスを学習したい方
・SiCデバイスの信頼性確保と試験方法、国際動向を知りたい方
・SiCデバイスの使用者、製造者、信頼性担当者の方
予備知識 ・半導体、とくにパワーデバイスに関する知識があると理解しやすい
修得知識 ・SiCデバイスに関する主要技術と信頼性の概要
・SiCデバイスの信頼性の課題と国際規格動向の全体像が理解できる
プログラム

1.SiCデバイスの特徴と市場動向

(1).SiCデバイスの市場動向

   a.SiCデバイスの品質レベル向上のインパクト

   b.鉄道から普及が始めるSiCデバイス

(2).SiCデバイスの特徴と課題

 

2.SiCデバイスの信頼性と国際規格動向

(1).ゲート閾値電圧測定法

   a.ゲート閾値電圧測定の基礎

   b.ゲート閾値電圧測定法の種類と特徴

(2).AC-BTI試験法

   a.SiCデバイスのDCとAC-BTIの劣化

   b.国際標準化の状況

(3).ゲート酸化膜信頼性 (TDDB)

   a.SiCのTDDB試験法と課題

   b.TDDB試験方法の国際動向

(4).Dynamic HTFB試験法

   a.急激に進展する中国SiC材料メーカ

   b.SiC結晶欠陥と材料評価としてのDynamic HTFB試験法

(5).Power  Cycle 試験法

   a.SiCデバイスのPw-Cycleの課題

   b.Pw-Cycle試験方法の国際動向

 

3.まとめ

 

4.質疑応答 

キーワード SiC Si EV HV 国際規格 信頼性 TDDB試験 HTFB試験 Power Cycle 試験 AC-BTI
タグ 検査信頼性試験・故障解析パワーデバイス
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
オンラインセミナー
本セミナーは、Web会議システムを使用したオンラインセミナーとして開催します。
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営業時間 月~金:9:00~17:00 / 定休日:土日・祝日