光学(偏光)の基礎と幾何学的位相素子を利用した偏光撮像技術および外観検査への応用 <オンラインセミナー>
~ 偏光理論の基礎と数値解析法、幾何学的位相と光学素子応用、偏光撮像技術と外観検査への応用と可視化技術 ~
・あまり学ぶ機会のない偏光理論と偏光・回折を利用した撮像法およびその応用技術を修得し、光学システムの設計や光学素子の高度化に応用するための講座
・偏光撮像技術の基礎から透明製品の歪み検査、フィルムの均一性評価、黒色物体の傷検査、はんだ不良部の検出などへの応用技術まで修得し、外観検査に活かそう!
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講師の言葉
近年の光産業技術の発展は凄まじく、新たな応用展開を目指すには光学素子の機能の高度化が鍵となる。中でも偏光制御は様々な光技術においてその重要性が見出されつつあり、偏光を自在に制御するデバイスの開発が急務である。しかし、偏光は実際の光学システム設計においては極めて重要であるにも関わらず、あまり詳しく取り上げられた教科書は多くはない。これからの光学技術開発においては、偏光の基礎理論に立脚した光学システム設計が広く求められると考えられる。
本セミナーでは、はじめに偏光理論の基礎や幾何学的位相に基づく偏光回折技術について概説し、偏光回折を理解するのに必要な基礎理論の習得と、偏光制御素子として近年期待される幾何学的位相素子の概念について知識を得る。さらに、具体的な幾何学的位相素子の例(偏光回折格子、偏光レンズ、q-plate)をその機能を含めて紹介するとともに、講師が現在取り組んでいる「偏光回折を利用した偏光撮像技術」の原理と応用事例(ガラス・プラスチックなどの透明製品の歪み検査、フィルムの均一性評価、黒色物体の傷検査、はんだ不良部の検出、スマートカメラ実装に向けた高コントラスト撮像等)について解説する。偏光撮像技術は様々な手法が開発されているが、偏光回折を利用した偏光撮像法は、「通常のカメラにアタッチメント式に幾何学的位相素子を装着すれば偏光撮像機能を付与できる」、「円偏光成分を含む偏光撮像が可能」、「顕微鏡や外観カメラ・望遠システム等、既存の撮像システムに広く適用できる」、「光学素子が軽量且つ低コスト」であるという特徴を持つ。
セミナー詳細
開催日時 |
- 2024年03月12日(火) 10:30 ~ 17:30
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開催場所 |
オンラインセミナー |
カテゴリー |
オンラインセミナー、電気・機械・メカトロ・設備、ソフト・データ・画像・デザイン |
受講対象者 |
・光学技術の中でも偏光技術に現在関わる(または今後関わる予定の)技術者の方
・光学関連分野に興味を持っている研究者・開発者・技術者の方
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予備知識 |
・光学全般に関する基礎知識を有していることが望ましいが、基礎知識を有していない受講者にも分かるよう解説します |
修得知識 |
・偏光理論の基礎
・光学システム設計における偏光伝播の計算手法
・広範な光学システム応用が期待される幾何学的位相素子の概念
・幾何学的位相素子の基礎特性と、その応用事例(活用法)についての知識
・偏光撮像技術の基本原理と、その応用事例についての知識
・偏光回折を利用した偏光撮像技術についての知識
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プログラム |
1.偏光理論の基礎と数値計算法
(1).何故今、偏光なのか?
(2).偏光の表記法
(3).ジョーンズ行列とミュラー行列
(4).マトリクス法を用いた光学システム中の偏光伝播の計算方法
(5).ポアンカレ球を用いた偏光伝播の追跡
(6).偏光を考慮した回折計算
(7).偏光の重ね合わせ
2.幾何学的位相と光学素子応用
(1).偏光の幾何学的位相
(2).幾何学的位相に基づく薄膜光学素子(偏光回折格子、偏光レンズ、q-plate)
(3).幾何学的位相素子の作製法
(4).光反応性高分子液晶を利用した幾何学的位相素子の形成
(5).種々の幾何学的位相素子の基礎特性と応用事例
3.偏光撮像の基礎
(1).偏光撮像の背景
(2).偏光変化の物理的要因
(3).偏光の測り方
(4).種々の偏光撮像技術
4.偏光回折格子を利用した偏光撮像法と外観検査への応用
(1).偏光回折格子を利用した偏光撮像法
(2).偏光探査型偏光撮像法
(3).外観検査への応用
(4).偏光撮像の応用事例と可視化される情報
a.整形物内部歪検査
b.異物検出
c.延伸フィルム均一性検査
d.AIスマートカメラ
e.高コントラスト化
f.医療計測器
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キーワード |
光学システム 偏光 回折 マトリクス法 幾何学的位相素子 偏光回折格子 偏光レンズ q-plate 偏光撮像 ガラス製品 プラスチック 歪み検査 黒色物体 傷探査 不良検出 スマートカメラ 高コントラスト撮像 外観検査 望遠システム |
タグ |
精密機器・情報機器、バイオ・遺伝子、信号処理、ガラス、医療・再生医療、イメージセンサ、リスク管理、光通信、変復調、プラスチック、カメラ、業務改善、研究開発、検査、データ解析、センサ、非破壊検査、樹脂・フィルム、画像、液晶、データ分析、機械要素、計測器、光学、実装、設備 |
受講料 |
一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
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会場 |
オンラインセミナー
本セミナーは、Web会議システムを使用したオンラインセミナーとして開催します。
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