IoTデバイスにおけるテスト技法とテスト効率化およびテスト自動化とそのポイント <オンラインセミナー>

~ IoTデバイスにおけるテスト設計とテスト生産性向上、バグ発見バランスの適正化、バグレポートの重要性と改善策、IoTデバイスのテスト自動化と品質向上のポイント ~

・IoTデバイスにおけるテスト作業での重要ポイントと実践的ノウハウを修得するための講座

・IoTデバイスにおけるソフトテストの実践手法・設計手法を修得し、効率的なテストの進め方とテスト生産性向上に活かそう!

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講師の言葉

 IoTデバイスのテスト設計を行う為には、ソフトウェアに加えハードウェアに関してのスキルも必要となり、テストを実践するには、設計そして実施に至るまでに様々な手法を用いた効率的な作業が求められます。

 本講座ではIoTデバイスにおけるテスト作業での重要ポイントを解説するとともに、事例紹介と演習を通じて実践的なノウハウを取得できます。

 また、今注目度が非常に高いテスト自動化のデモをご覧いただき、ハンズオンを通じて体感していただきます。

セミナー詳細

開催日時
  • 2020年09月03日(木) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー オンラインセミナーソフト・データ・画像・デザイン
受講対象者 ・IoTデバイスのソフトウェアテストおよび品質向上に携わっている方、またこれから携わる方
・IoTデバイスの開発部門の担当者、技術者および管理者の方
・IoTデバイスの開発における具体的なソフトウェアテストと設計手法について、体系的に理解し直して今後に役立てたいとお考えの方
・ソフトウェアテスト自動化に携わっている方、またこれから携わる方

予備知識 ・ソフトウェア開発またはソフトウェアテスト経験があればより理解が進みます
修得知識 ・IoTデバイスのソフトウェアテストに関する効率化のポイントが得られます
・IoTデバイスのソフトウェアテスト手法を修得できます
・テスト自動化導入に関する知識を修得できます
プログラム

1. IoTデバイスにおけるテスト設計力の向上

  (1).IoTデバイスにおけるテスト設計の考え方

  (2).IoTデバイス特有のテスト観点

  (3).IoTデバイスに適したテスト設計技法

  (4).演習:テスト設計

 

2. IoTデバイスにおけるテスト生産性の向上

  (1).バグ発見バランスの適正化

  (2).点を狙ったテスト実行

  (3).バグレポートの重要

  (4).バグレポートの改善策

 

3. IoTデバイスのテスト自動化

  (1).テストツールによる品質向上

  (2).テストツールによる自動化デモ

  (3).ハンズオン:テスト自動化 の体験

  (4).演習:テスト戦略

 

キーワード IoTデバイス テスト設計 テスト生産性向上 バグレポート テストツール テスト自動化
タグ ソフト管理ソフト外注管理ソフト品質ソフト教育
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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