LED・VCSELの劣化メカニズムと故障解析および寿命予測・信頼性向上への応用 <オンラインセミナー>

~ LED、VCSELの基本特性と寿命試験、故障(劣化)解析技術、GaN系LD、LED、VCSELの信頼性、劣化低減への方策 ~

・高性能で信頼性の高い製品開発の鍵を握る発光デバイスの信頼性向上を実現するための講座
・半導体材料の評価や発光デバイスの故障解析技術に造詣の深い講師の方から豊富なデータに基づいた劣化解析技術とその抑制方法を修得し、信頼性の高い製品開発に応用しよう!

テレワークの方の学習にも最適なセミナー!

・本講座は、WEB会議システムを利用して開催いたします
・受講の仕方など詳細は、お申込みいただいた後にご連絡いたします
・その他疑問点がございましたら、お問い合わせください
・PCの環境等で視聴できない方は、弊社研究室でご受講が可能です

講師の言葉

 半導体レーザ・発光ダイオードなどの半導体発光デバイスは、大中容量ファイバ通信システム用の光源のみならず、オーディオ/ディジタルシステムなどの民生機器用光源や光プリンタ用光源、最近では、医療用小型光源、各種センサー、さらには、白色LEDをベースにした各種照明、ディスプレイなど極めて多岐にわたる領域に用いられており、その材料・構造も多種多様となっています。そのため、高性能で信頼性の高い製品を開発するには、発光デバイスの信頼性向上が重要な鍵を握っているといっても過言ではありません。しかし、その故障(劣化)の原因を解析・究明するためには、経験に基づいた知識を持ち、かつそれをうまく応用できる技術者が不足しているため、より信頼性の高いデバイスを開発・供給できないのが実情です。そこで、今回は、こうした発光デバイスの高信頼化の鍵を握る劣化解析および劣化解析事例について、本講師の永年にわたる豊富なデータに基づいて、デバイスの各種信頼性試験、信頼性解析のフローチャートと要素技術、解析する際の留意点などについて触れ、講義の中核の事例では、発光デバイスの基本的な劣化解析事例や派生的な劣化の解析事例および劣化の抑制方法を示します。
 今回は、LED、特に、赤外LED、GaN系青色・紫外LED、さらには最近爆発的に需要が伸びているVCSEL(面発光レーザ)の技術動向および信頼性研究の最新情報に焦点を当て、各種劣化モードの事例を示しながら、詳しく解説致します。

セミナー詳細

開催日時
  • 2020年06月02日(火) 10:30 ~ 17:30
開催場所 オンラインセミナー
カテゴリー オンラインセミナー電気・機械・メカトロ・設備品質・生産管理・ コスト・安全
受講対象者 ・半導体発光デバイス、特に各種LED、VCSELの研究、開発、設計、製造、信頼性試験・解析に従事している方
・光マイクロエレクトロニクス、光学関連材料、光実装の関連分野の方
予備知識 ・半導体発光デバイスの研究、開発、設計、製造、技術、信頼性評価に関する一般的な知識
修得知識 ・発光デバイス(各種LED、VCSEL)の劣化メカニズムを把握し、劣化要因低減の方策が得られ、製品の高信頼化に活かすことができる
プログラム

1.各種LEDの技術動向
  (1) .赤外LEDの技術動向
    ・高出力赤外LEDの開発例
  (2).GaN系LED(InGaN、AlGaN)の技術動向
    ・LEDの照明への応用
  (3).VCSELの技術動向
    ・VCSELの概要

2.発光デバイスの基本特性と寿命試験
  (1).LED、VCSELの基本特性
  (2).寿命試験
    a.通電試験(スクリーニング、実装後のランニング試験)
    b.発光デバイスの温度加速試験による寿命の予測
    c .大電流通電試験(動作限界の把握、定格電流の提示)
    d.ESD試験

3.LED、VCSELの故障(劣化)解析技術
  (1).故障解析のフローチャート
  (2).外観検査技術
    a.光学顕微鏡
    b.走査型電子顕微鏡(SEM)
  (3).内部解析技術
    a.電気的評価(断面EBIC)
    b.光学的評価(PL、CL、EBIC)
    c.結晶学的評価(エッチング、X線トポグラフ、TEM)
    d.化学組成評価(SEM/EDX、TEM/EDX、オージェ分析)

4.発光デバイス材料の問題点と抑制方法
  (1).結晶欠陥の発生と抑制方法: 界面欠陥、バルク欠陥
  (2).熱的安定性:相分離とオーダリング

5.赤外LED(Ⅲ-Ⅴ族化合物半導体)の故障(劣化)解析事例
  (1).半導体発光デバイスの故障モード
  (2).急速劣化の解析事例
    a.REDCによる急速劣化
     b.REDGによる急速劣化
  (3).遅い劣化の解析事例
  (4).衝撃劣化の解析事例
     ・赤外LEDの衝撃劣化と低減
  (5).頓死モードについて
    a.頓死の事例とメカニズム
     b.頓死の抑制方法

6.GaN系LD、LEDの信頼性
  (1).材料の課題
    ・欠陥、組成揺らぎなど
  (2).信頼性と劣化メカニズム
    ・GaN系発光デバイスの信頼性

7.VCSELの信頼性
  (1).VCSELの弱点とは?: その開発上の材料の課題
  (2).VCSEL固有の劣化メカニズム
  (3).VCSELチップの信頼性向上のポイント(最適VCSEL選定のポイント)
    ・推定される劣化メカニズムと抑制方法
  (4).VCSELチップを搭載したモジュールの信頼性向上のポイント

8.劣化低減への方策:メーカの取り組み方
    a.VCSELを用いた電子機器の信頼性保障体制確立のための要点
    b.デバイスメーカと機器メーカの対策手順

9.質疑応答・個別相談

キーワード LED VCSEL 劣化メカニズム 寿命予測 スクリーニング 加速試験 ESD試験 外観検査技術 内部解析技術 結晶欠陥 熱的安定性 急速劣化 衝撃劣化
タグ イメージセンサ寿命予測信頼性試験・故障解析蓄電電子部品LED・有機EL・照明LSI・半導体
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
オンラインセミナー
Web会議システムを使用してオンラインセミナーとして開催します
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