機械学習・深層学習による画像認識の基礎と外観検査システムへの応用 ~1人1台PC実習付~

~ Pythonによるプログラミング、画像特徴量と機械学習による分類、画像認識の仕組み ~

・機械学習や深層学習の使い所を見極めて、画像認識を使った外観検査に活かすための講座
・外観検査システムにおいて画像認識を利用するポイントを習得し、目的に合わせた高性能なシステム開発に応用しよう!
※PCは弊社で用意致します。

講師の言葉

 AIブームが始まってから、多くの企業が機械学習の技術を使って実用化していると思われます。しかしながら、必ずしも深層学習を用いたシステムが、機械学習によるシステムより優れているとは限らず、条件によっては古典的な機械学習を用いたほうが高い性能を得られる場合があります。本講座では、機械学習と深層学習による画像認識の習得を目指し、それぞれの手法の長所と短所を理解し、的確に選択できるような基礎を身につけます。さらに製造業などで特に求められる外観検査システムとして画像認識を利用する場合に注意すべきポイントと実例を紹介し、簡単な外観検査プログラムを実際に動かして体験していただきます。

セミナー詳細

開催日時
  • 2020年01月29日(水) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー ソフト・データ・画像・デザイン
受講対象者 ・これからAIによる画像認識に取り組もうと思われている方
・外観検査、試作、設備開発の方
・深層学習と機械学習の使い分け方について学びたい方
予備知識 ・基礎的なプログラミングの知識(変数、配列、ループ文、関数など、言語種類問わず)
修得知識 ・画像処理技術と機械学習の仕組みについて理解できる
・ディープラーニングを使った外観検査について基礎的な考え方を理解出来る
プログラム

1.プログラミング言語Pythonの基礎と,Anaconda の利用方法
  (1).AIによる画像認識の最新動向
  (2).プログラミング言語Pythonの基礎
  (3).Anaconda の使い方

2.画像特徴量の抽出と機械学習による分類
  (1).scikit-imageによる画像処理の基礎
  (2).画像の領域分割と特徴量抽出
  (3).scikit-learnによる機械学習の基礎
  (4).機械学習による画像認識 

3.ディープラーニングによる画像認識の仕組み
  (1).Keras+Tensorflowによるディープラーニング入門
  (2).畳み込みニューラルネットワーク(CNN)
  (3).AutoEncoderによる異常検出

4.良品学習に基づく欠陥検出の事例
  (1).良品学習とは
  (2).OneClassSVMによる欠陥検出
  (3).VAEによる欠陥検出
  (4).AIによる外観検査支援システム構築のポイント

キーワード 外観検査 画像処理 画像認識 Python SVM サポートベクターマシン サポートベクトルマシン 深層学習 ディープラーニング 良品学習 異常検知
タグ 画像画像処理画像認識
受講料 一般 (1名):55,000円(税込)
同時複数申込の場合(1名):49,500円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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