~ 加速寿命データ解析に必要な基礎的事項、確率プロットの手順と信頼性予測の方法 ~
・Excelによる実習を通して、加速寿命試験による信頼性予測をマスターするための講座
・加速寿命試験と寿命データ解析手法をマスターし、製品の信頼性確保に応用しよう!
*PCは弊社でご用意いたします
*Excelテンプレートと演習中に作成したファイルは持ち帰って、有効に活用できます(USBメモリをご持参ください)
~ 加速寿命データ解析に必要な基礎的事項、確率プロットの手順と信頼性予測の方法 ~
・Excelによる実習を通して、加速寿命試験による信頼性予測をマスターするための講座
・加速寿命試験と寿命データ解析手法をマスターし、製品の信頼性確保に応用しよう!
*PCは弊社でご用意いたします
*Excelテンプレートと演習中に作成したファイルは持ち帰って、有効に活用できます(USBメモリをご持参ください)
信頼性試験では加速寿命試験は必須である。加速寿命試験では対象や目的ごとに加速手段は異なるが、基本的には温度、電圧・電界、電流(密度)、湿度、熱・機械的ストレス、などによる加速が行われる。
本セミナーでは、まず、加速寿命試験と加速寿命データ解析の基礎を講義する。その後、加速寿命試験の結果得られる寿命データの解析の仕方を講義し、演習する。実際にMicrosoft Excelで寿命データ解析ができるところまで解説する。また、解析結果を元にした信頼性予測法を紹介する。基礎的な寿命データ解析ができる段階まで解説した後、応用編として、確率プロットが直線にのらない場合の対処法と半導体デバイスを対象とした解析の事例を紹介する。後者としてはIRPS (信頼性物理国際会議) の論文を対象に調査した結果、寿命の短時間側の裾から中央までの分布を効率的に評価した事例を紹介する。最後に使いものになるまで演習を行う。
受講者自身のデータを持参すると演習中にそれを解析することもできます。理解が不十分でも解析できるように、Excelのテンプレートも提供します。Excelテンプレートと演習中に作成したファイルは持ち帰って、有効に活用できます。
開催日時 |
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開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
カテゴリー | 品質・生産管理・ コスト・安全 |
受講対象者 |
・電子部品、半導体デバイスの信頼性担当者 ・寿命加速試験や信頼性予測に関連した業務に携わる技術者、研究者 |
予備知識 |
・特に必要ありませんが、基本的な統計の概念を理解していることが望ましい ・Excelの基本操作を習得していることが望ましい |
修得知識 |
・加速寿命試験の基礎が理解できる ・寿命データが通常のデータとどこが違うのかが理解できる ・寿命データ解析法の基礎が修得できる ・信頼性予測法の基礎が修得できる ・寿命データを解析できるようになる ・信頼性予測ができるようになる |
プログラム |
1.加速寿命試験の基礎 2.加速寿命データ解析に必要な基礎的事項 3.寿命データ解析の基礎 4.Microsoft Excelを使った寿命データ解析と信頼性予測 5.応用編 6.演習 |
キーワード | 加速寿命試験 寿命データ解析 ストレス強度モデル 抜取り試験 ワイブル分布 バスタブカーブ |
タグ | 寿命予測、信頼性試験・故障解析、品質管理、電子部品 |
受講料 |
一般 (1名):50,600円(税込)
同時複数申込の場合(1名):45,100円(税込) |
会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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