～ 故障解析の種類と進め方、良品解析の有効性と取り組み事例、HALTなどを活用した不具合原因究明 ～
・不良が起こる原因を究明し、不具合発生の再発防止に活かすための講座！
・故障解析、良品解析の手法やHALT試験の活用法を学び、不具合の再発防止や品質管理に活かそう！
電子部品における故障解析の進め方と不具合原因究明への取り組み方と要点・事例
講師の言葉
市場における不具合の多くは設計の失敗や、取り扱い上のミスで発生することが多い。市場で故障が発生すると顧客の信用の失墜、交換品のコストのみならず修理に関わる労力、さらには製品リコールなど信用の失墜だけでなく、経済的にも大きな損害を伴う。
本セミナーでは不具合原因究明の取り組み事例を通じて、失敗を繰り返さないための管理方法や、不具合原因究明の進め方、また、不具合原因究明に携わる電子技術者の取り組み方の要点をご紹介いたします。
会場を変更いたしました（西新宿→市ヶ谷）
セミナー詳細
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | 市ヶ谷法曹ビル Ｂ１ 会議室 |
| カテゴリー | 品質・生産管理・ コスト・安全 |
| 受講対象者 |
・電子部品や電装品で、これから信頼性や故障解析業務に携わる技術者の方 ・電子部品や電子製品の信頼性に関わる開発技術者、品質保証技術者 |
| 予備知識 | ・特に必要ありません |
| 修得知識 |
・故障解析・良品解析の基本が習得できます ・市場で発生した不具合解析の進め方や考え方が理解できます |
| プログラム |
１．故障解析の基礎と進め方 （１）．故障解析とは ａ．故障モードと故障メカニズム （２）．故障解析の種類と進め方 ａ．非破壊解析手法と評価事例 ｂ．破壊解析手法と評価事例
２．不具合原因究明の進め方と取り組み事例 （１）．不具合原因究明の進め方と究明ツール （２）．不具合原因究明の取り組み事例 （３）．良品解析とは ～その背景 （４）．良品解析の有効性と進め方 （５）．良品解析の取り組み事例 ａ．設計不良の事例 ｂ．工程不良の事例 （６）．電子技術者の不具合原因究明への取り組み方 ・HALTを含め様々な不具合原因究明を行うための手法を事例で紹介 |
| キーワード | 故障解析 良品解析 原因究明 リコール 信頼性 故障モード 故障メカニズム |
| タグ | 信頼性試験・故障解析、電子部品、電装品 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
市ヶ谷法曹ビル Ｂ１ 会議室東京都千代田区九段北４－１－５ 市ヶ谷法曹ビル 地下１階最寄り駅： ＪＲ中央・総武線「市ヶ谷駅」より靖国神社方面に徒歩5分 地下鉄：都営新宿線、東京メトロ南北線・有楽町線「市ヶ谷」駅A4出口から徒歩4分 都バス「一口坂」バス停前 |
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