3次元計測技術の基礎と点群データの応用・事例

〜 点群処理と点群計測、レーザースキャナによる三次元計測、非接触測定点群データの検査技術、リバースエンジニアリングへの活用 〜

3次元計測の使い方を正しく理解し、効果的に応用するための講座

経験豊富な講師から三次元計測のノウハウと、短納期・品質保証を実現する点群データの検査への応用技術を学べる特別セミナー! 

講師の言葉

第一部

 昨今、地上型3Dレーザスキャナ(以下、3DLS)の普及に伴い、様々な案件で3DLS計測が行われ、大規模なデータが手軽に作成出来るようになりました。

 本講義では、プラントや船舶、遺跡、文化財などで数多の三次元計測の経験をベースに、はじめて三次元計測について触れられる方や、業務を担当されて間もない方を対象に、現場レベルでの基本的な事項や計測・処理する上での注意点などを中心にご紹介致します。3DLSの取扱いや、点群データ処理の基本を学んでいただき、業界の発展の一助となることができましたら嬉しく思います。「うまくいかない」「予算が合わない」「拡張子はどれを用いれば良いか分からない」など、3DLS計測や点群データにお困りの方は是非ご参加いただければと思います。

第二部

 昨今、家電の樹脂成形品、自動車鋳鍛造成形品、プレス成形品などの工業製品の製作では、短納期が必須とされています。ただし、短納期を実現しても製品品質は保証しなければなりません。従来の検査業務では、検査用に2次元図面を使用し、プローブなどの接触式測定機で検査しています。これに対し、工業製品の検査工程における短納期と品質保証の両方を実現する方法として、高精度化したCCDカメラ方式やレーザー方式、産業用CTスキャナなどの非接触測定機と3次元設計CADデータを利用することにより、従来の検査手法とは全く異なる圧倒的に効率化された製品検査の方法を紹介します。

セミナー詳細

開催日時
  • 2018年05月11日(金) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 品質・生産管理・ コスト・安全
受講対象者 ・点群計測の業務に携わっている方 ・点群処理の業務に携わっている方 ・受け入れ検査の工数削減を検討している方 ・金型の試作・製作に携わっている方 ・品質保証や改善を考えている方
予備知識 ・特に必要ございません
修得知識 ・3D点群計測・処理の概要と基礎を修得できる ・非接触測定データにおける検査及びリバースエンジニアリングの知識を修得できる
プログラム

第一部 レーザースキャナを用いた3次元計測の基本

1.三次元計測の概要

  (1) .三次元計測とは

  (2) .得られるデータ

  (3) .使用機材・必要スキル

  (4) .後処理の必要性

 

2.三次元計測の基本

  (1).ハードウェア

    a.点群データの取得方法

    b.地上型レーザースキャナ

    c.ToF法

    d.位相差方式

    e.スキャナ選定のポイント

  (2) .ソフトウェア

    a.点群計測

    b.点群合成

    c.モデリング

    d.PDMS

  (3) .三次元計測業務

    a.業務フロー

    b.目的・範囲

    c.許容誤差

    d.座標系

    e.対象物

    f.計測環境

    g.成果物

 

3. 業務の基本

  (1).三次元計測

  (2).点群合成

  (3).モデリング

 

4.効果・メリット・活用例

 

第二部 短納期と品質保証を実現する点群データによる製品検査技術とそのポイント

1. 測定機

  (1).接触測定機から非接触測定機へ

    a.非接触測定機の種類

    b.非接触測定機のメリット

 

2.三次元CADデータと非接触測定点群データの活用

  (1) .検査技術への活用

    a.非接触測定データを利用した検査のメリット

    b.検査機能

    c.活用例

      ・金型の不具合部位の早期発見

      ・適切な金型修正対策

      ・金型や製品の摩耗検査

      ・多数個取り製品の個体差比較検査

      ・部品の距離寸法・角度・幾何公差検査

      ・非破壊検査における肉厚確認

      ・部分組み付け後の変形・位置ずれ検査

      ・3次元検査報告書におけるソリューション

      ・検査工数の短縮

 

  (2).リバースエンジニアリングへの活用

    a.概要

    b.機能

    c.活用例

      ・金型仕上げ形状のフィードバック

      ・老朽金型の再生

      ・量産中の破損金型の現状修復

      ・プレス製品からの金型作成

      ・設計段階の見込み形状をCADデータ化

      ・解析データからCADデータ作成

      ・デザイン・クレイモデルからデザイン面の作成

      ・現物製品形状を解析システムに利用

 

3. 非接触測定検査の今後

  (1).自動処理・自動測定

  (2).自動検査

キーワード 三次元計測 点群処理 点群計測 レーザースキャナ ToF法 点群合成 モデリング PDMS 非接触測定 リバースエンジニアリング 自動測定 自動検査 自動処理
タグ 検査品質管理
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
こちらのセミナーは受付を終了しました。
次回開催のお知らせや、類似セミナーに関する情報を希望される方は、以下よりお問合せ下さい。
contact us contact us
各種お問い合わせは、お電話でも受け付けております。
03-5322-5888

営業時間 月~金:9:00~17:00 / 定休日:土日・祝日