〜 実装プリント基板/電子モジュールの試験・維持・不良原因の追究・診断方法・不良解析、メンテナンスを効率化する設計・テスト手法、回路図の無い実装プリント基板からの回路図作成法 〜
- プリント基板と電子モジュールの試験技術と品質向上手法を学び、問題解決と再発および未然防止に活かすための講座！
- IEC（国際電気標準会議）及びIEEE（米国電気電子学会）で知り得た国内外の最新情報を基に試験／メンテナンスの近代化、コストダウン方法について解説する特別セミナー！
プリント基板・電子モジュールの不良解析・試験技術と信頼性向上 〜デモ付〜
講師の言葉
プログラムに記述させていただいた通り、実装プリント基板、基板搭載電子部品、電子モジュール、電子機器などの完成試験、不良解析、メンテナンスを円滑に行っている企業は少なく、そこに問題を抱える方々に、ソリューションの一助として、本講習会を計画します。
私はIEC（国際電気標準会議）及びIEEE（米国電気電子学会）のメンバーとして知り得た海外の最新情報と、国内の企業の方々からいただいた情報を基に、試験／メンテナンスの近代化、更にはコストダウン方法について、お話ししたく考えています。
特に、老朽化した機器のメンテナンスに関して、情報交換を行い自社負担を軽減するようなコンソーシアムを立ち上げることも推進中。
セミナー詳細
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
| カテゴリー | 研究開発・商品開発・ ビジネススキル |
| 受講対象者 | ・エレクトロニクス業界で、設計・生産技術・品質管理・サービスなどの部門の方 |
| 予備知識 | ・電気・電子の基本知識をお持ちの方 ・Windows PCの仕様経験／知識のある方 |
| 修得知識 | ・実装プリント基板、基板搭載電子部品、電子モジュール、電子機器などの試験技術／メンテナンス方法などの自社の理想的な手法を検討出来る基礎知識を得る。 |
| プログラム |
１．実装プリント基板／電子モジュールの試験・維持・メンテナンスの難しさ
（１）．技術の進歩とともに年々変化する実装プリント基板／電子モジュールの不良原因の追究
ａ．実装技術の進化に対応する試験方法・不良個所診断方法
ｂ．搭載電子部品の進化に対応する試験方法・不良個所診断法
ｃ．生産形態に対応する試験方法の対応
（２）．自社の実情より最適な試験方法・不良個所診断法の近代化を実現する
ａ．自動試験機の歴史から考察する理想的な試験方法を探る
ｂ．自社の技術者のスキルに合わせた試験方法の近代化
ｃ．試験・メンテナンスを効率化する設計手法
２．実装プリント基板の不良解析・メンテナンス
（１）．テスト手法の紹介と効果
ａ．ファンクションテスタ（機能試験装置）
ｂ．インサーキットテスタ（搭載部品試験）
ｃ．ノーダルインピーダンステスタ（良品比較方式）
ｄ．モックアップテスタ（実機試験方式）
（２）．典型的な試験装置のデモ
ａ．インサーキットテスタ（搭載部品試験）
ｂ．ノーダルインピーダンステスタ（良品比較方式）
（３）．老朽化プリント基板修理の効率化
ａ．コンソーシアムの設立・情報交換の提案
３．リバースエンジニアリング
（１）．回路図の無い実装プリント基板より回路図を作成
４．質疑応答 |
| キーワード | プリント基板 電子モジュール 試験 メンテナンス 不良原因 試験方法 不良個所診断 テスト手法 機能試験装置 搭載部品試験 良品比較方式 実機試験方式 基板修理 回路図 |
| タグ | シミュレーション・解析、品質管理、プリント基板、回路設計、基板・LSI設計 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿２－７－１ 新宿第一生命ビルディング（２２階）- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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