電子デバイスの信頼度予測と寿命推定への応用およびそのポイント

〜 アレニュースモデルによる信頼性予測法、故障率曲線、確率紙の効果的な使い方と読み方、実践事例と活用のポイント 〜

・独自に一工夫を凝らした実用的な信頼性予測手法を応用するための講座

・アレニュースモデルのグラフ解法にワイブル解析、累積ハザード法を組み込んだ信頼度予測と寿命推定への応用技術を修得し更なる信頼性向上に活かそう!

※作図演習のための直線定規を持参してください

講師の言葉

 電子関係技術者の常識としてのアレニュースモデルは物理の教科書レベルの知識のままではもったいない。実務で活用して初めてそのパワーを体感するのである。

 本講座では独自に一工夫凝らしたグラフ解法をその構成の理論的解説と実際に実務で活用した半導体不良の信頼性予測とその検証の一部始終をグラフ解法の中で解説する。 

 この方法を身に付ければ皆さんの職場で簡単にアレニュースモデルを活用することが出来る。

 直接自分が手を汚さなくても、どういう理論的展開でどのような手段で信頼性予測を行うのか更には、どのようにしてその予測の信ぴょう性を検証するのか、実例でその流れを把握しておくことが重要である。

 この内容は机上の空論(虚業)ではなく、実際に実践した実録であり「実業の世界」の話である。

セミナー詳細

開催日時
  • 2017年07月21日(金) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 電気・機械・メカトロ・設備
受講対象者 ・電子系設計技術者、設計管理者、品質保証技術者、管理者の方 (電子デバイスを利用する各種電子機器の信頼性保証、評価、設計開発等に関わる技術者の方や研究開発等に関わる方など)
予備知識 ・特に必要としません、基礎からわかりやすく解説します
修得知識 ・設計に必要な知識と実務への知識と活用法が修得いただけます ・信頼性の理論 ・Weibull確率紙の使い方とその読み方 ・累積ハザード確率紙の使い方とその読み方 ・アレニュースモデルの理論を個々の知識・ツールとして習得できる ・最大の特徴は、それらのツールをどのように組み合わせれば課題解決の道筋が得られるかという想像力を働かせた「仕事の進め方」である(個々のツールをこなす「作業」とは一線を画する) ・更に、理論的解説に加え演習を組み込み、「理論と実際」をPackで進めるので、できるという自信に繋がり職場に戻ってから職場のツールとして活用できる。
プログラム

1.アレニュースモデルによる信頼性予測について

  (1).アレニュースモデルで半導体不良の信頼性予測をしたい

  (2).モデルにのせるための加速試験データはどのように扱うのか(Weibull確率紙)

  (3).アイデアはアレニュースモデルとWeibull確率紙を合体させたこと

  (4).検証のためのデータは不完全データなので累積ハザード法を用いる

  (5).故障がゼロだった場合にMTTFの信頼限界下限をおさえる

  (6).そのために色々な信頼性のツールを学び、それらを組み合わせて課題を解決する     

2. 信頼性理論の基礎知識のおさらい

  (1).信頼性の理論

     a.信頼性工学の位置づけ

     b.品質管理と信頼性

     c.信頼性の尺度

     d.信頼度関数と故障率の理論的解説

     e.指数分布の性質

     f.MTTF, MTBFの意味

  (2).故障率曲線 (Bath Tub Curve)

     a.故障率演習-1

     b.故障率演習-2

     c.故障率曲線の理解

3.信頼性解析のための確率紙の使い方と読み方

  (1).確率紙

     a.確率紙を理解するための導入

     b.正規確率紙の理論的構成

     c.正規確率紙の使い方、読み方(演習)

     d.データを正規分布とみなしてよいか「当てはめの検定」への応用

     e.どのような場面で役に立つのか

     f.Excelでの作図

  (2).Weibull確率紙

     a.Weibull分布の理論的構成と意味

     b.Weibull確率紙への理論的構成

     c.平均ランク法とメジアンランク法

     d.Weibull確率紙のつかいかたと読み方(演習)

     e.実践事例紹介

     f.加速係数の考え方

  (3).Wibull型累積ハザード確率紙

     a.完全データと不完全データ

     b.累積ハザード確率紙の理論的構成

     c.累積ハザード確率紙の使い方と読み方(演習)

     d.実践事例紹介と活用のポイント

     e.どのような場面で役に立つのか

4.アレニュースモデルによる電子デバイス不良の信頼性予測と検証および活かし方

  (1).アレニュースモデル

     a.物理の教科書の中だけではもったいない

     b.アレニュースモデルの理論的構成と意味

     c.アレニュースモデルのグラフ解法

  (2).アレニュースモデルによる信頼性予測

     a. Weibull確率紙と合体したグラフ解法の解説

      b. 活性化エネルギーを求める尺度の理論的解説

     c. 実例を使ってのグラフ解法の解説

  (3).検証と活かし方

      a.生産現場の生データは不完全データ

     b.実機試験データの意味を累積ハザード確率紙で読み取る

     c.グラフ解法の予測と比較 検証−1

     d.対策品は不良が無いのは当たり前 

     e.MTTFはどのくらいなのかを予測する 検証-2

     f.これらのことから予測の信ぴょう性が担保される

5.まとめと質疑応答

キーワード アレニュースモデル 信頼性予測 故障率曲線 信頼性解析 電子デバイス不良  確率紙の使い方 グラフ解法
タグ リスク管理寿命予測信頼性・故障解析センサプリント基板回路設計・フィルタ基板・LSI設計電子機器電子部品電装品LSI・半導体
受講料 一般 (1名):48,600円(税込)
同時複数申込の場合(1名):43,200円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 小田急第一生命ビル(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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