〜 ストレスと故障メカニズムの関係、信頼性・安全性を左右するデータの活用と事例 〜
・製品寿命をあらかじめ予測して安全な製品つくりに活かすための講座
・培われた故障物理の情報を効果的に設計に活用し、信頼性の高い製品開発に活かそう!
〜 ストレスと故障メカニズムの関係、信頼性・安全性を左右するデータの活用と事例 〜
・製品寿命をあらかじめ予測して安全な製品つくりに活かすための講座
・培われた故障物理の情報を効果的に設計に活用し、信頼性の高い製品開発に活かそう!
市場で発生している不具合に信頼性的欠陥やライフエンド問題が見受けられる。
新製品は軽薄短小/密閉化/多機能化/環境規制対策/コストダウン部材の採用、あるいは新技術の導入と変化するが、物の壊れ方は変わらないので培われた故障物理の情報を如何に設計に活かすかということになる。
またライフエンド事故は安全性の問題と考えられがちだが劣化が絡む問題が多いので信頼性と安全性を一体化して考える必要がある。
本セミナーでは物の壊れ方について把握し、寿命試験/評価やライフエンド試験/評価の実施の仕方、そこで得られる情報を開発/設計に活かす方法について事例を交え解説する。
開催日時 |
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開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
カテゴリー | 電気・機械・メカトロ・設備、品質・生産管理・ コスト・安全 |
受講対象者 | ・新製品開発設計の信頼性向上に取り組んでおられる方 ・信頼性試験および信頼性データの分析・評価を担当されている方 ・ライフエンド事故対策を担当されている方 |
予備知識 | ・特に必要としません、基礎からわかりやすく解説します |
修得知識 | ・製品の壊れ方と故障物理 ・寿命試験/ライフエンド試験に必要となる加速試験法とそのポイント ・製品開発設計において信頼性・安全性の一体化に向けたデータの活用法 |
プログラム |
1.新製品の信頼性保証に必要な試験は変わってきている 2.評価と事例
(1).開発/設計段階での信頼性試験・評価とは
3.壊れ方から考えなければならないストレスの加え方
(3).試験のストレスの加え方、組合せ方
(4).避けたい温湿度環境試験の落とし穴
(5).知っておかねばならない故障のストレス要因事例
b.湿度ストレス
d.ガスストレス
e.電気ストレス
4.寿命試験/ライフエンド試験に必要となる加速試験事例
(1).加速試験の考え方
(6).ラルソン-ミラー則(クリープ)
5.ライフエンド事故の実態
(3).幾つかのライフエンド事故例
(4).30年前からわかっている発火メカニズム
6.知っておかねばならないライフエンドの評価と試験
7.信頼性・安全性を左右するデータの活用と事例
(3).不足データを創る時の注意事項
8.まとめと質疑応答 |
キーワード | 製品の信頼性保証 信頼性試験 ストレス故障 ライフエンド 信頼性データ |
タグ | 安全、検査、寿命予測、信頼性試験・故障解析、品質管理、基板・LSI設計、電子機器 |
受講料 |
一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込) |
会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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