〜 欠陥の流出防止、ＥＯＳ故障、誤動作、半田寿命、ゼロデフェクト品質向上への実現策 〜高機能化が進む車載デバイスの品質課題に対応するための講座
・高機能化が進む車載デバイスの品質課題に対応するための講座
・ゼロデフェクト品質の達成のために必要となる、信頼性確保のための技術を学び、製品開発や品質向上に役立てよう！
車載半導体・ＥＣＵにおける信頼性技術と品質向上策
講師の言葉
半導体は車載／非車載に分化しつつある。
車載半導体は「０デフェクト」と言われる品質目標を達成するため、欠陥の「作らず対策」と「流さず対策」が積み重ねられてきた。
しかし、これは半導体初期故障の一部であり、さらなる故障低減には半導体EOS故障の要因分析を進める必要がある。
高機能化が進む最近の半導体はＳｉ回路基板化し、検査率の低下やイミュニティ設計の課題に取り組む必要がある。
本講座ではこうした車載半導体の最近の信頼性課題を解説する。
セミナー詳細
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
| カテゴリー | 電気・機械・メカトロ・設備、品質・生産管理・ コスト・安全 |
| 受講対象者 | ・車載電子製品の開発・設計技術者、品質管理部門の方 ・車載機器の信頼性設計や評価を担当する方 |
| 予備知識 | ・半導体デバイスおよびその実装における基礎知識 |
| 修得知識 | ・車載半導体の品質向上に関する知識 |
| プログラム |
１．自動車技術の動向 ２．電子システム開発動向と半導体 ３．半導体応用技術 ５．ＥＯＳ故障 ６．誤動作 ７．半田寿命 ８．まとめ |
| キーワード | 車載デバイス 車載半導体 パワーデバイス ECU ESD イミュニティ ゼロディフェクト |
| タグ | 信頼性試験・故障解析、ノイズ対策・EMC・静電気、基板・LSI設計、自動車・輸送機、電子部品、ECU、LSI・半導体 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿２－７－１ 新宿第一生命ビルディング（２２階）- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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