〜パワーエレクトロニクスの基礎、高温対応実装における信頼設計とシミュレーション活用、SiC・GaNパワーデバイスの最新技術と技術開発のポイント〜
パワーデバイスの最新技術を修得し、機器の小型・高性能・高温対応化に活かすための講座
特性の向上が著しいSiC、GaNパワーデバイス技術を先取りし、高性能、高温対応製品の開発に活かそう!
〜パワーエレクトロニクスの基礎、高温対応実装における信頼設計とシミュレーション活用、SiC・GaNパワーデバイスの最新技術と技術開発のポイント〜
パワーデバイスの最新技術を修得し、機器の小型・高性能・高温対応化に活かすための講座
特性の向上が著しいSiC、GaNパワーデバイス技術を先取りし、高性能、高温対応製品の開発に活かそう!
現在、中・高耐圧領域で最強のパワー半導体デバイスであるSi-IGBTがハイブリッド自動車(HV)や電気自動車(EV)のインバータシステムに用いられている。これらHVやEVに使われる現在まで、その誕生から今日に至るまでの技術開発の歴史を振り返り、その革新技術は何であったかについて電気的特性ならびに品質向上の観点から解説する。
またパワー半導体デバイスの将来を考える上での重要な課題として、Si-IGBTからSiCに代表されるワイドバンドギャップ化合物半導体にいつ本格的に移行するかというところにある。Si-IGBTはトレンチFS型IGBTの、またパワーMOSFETはSJ-MOSFETの誕生により、特性限界に近づきつつあると言われ、いよいよワイドバンドギャップパワー半導体の登場も現実となった。
これはSiCやGaNは、その物性上の優位性により、電力密度向上さらには冷却系小型・簡略化が可能で、システムの大幅な小型、低コスト化が期待できるからである。しかしながら最近のSiCデバイスの発表データを見ると、オン抵抗に代表される低損失特性は目を見張るものの、長期信頼性に関してはSiCデバイス特有の課題に未だ解決の余地があるようである。
また、SiC・GaN材料特性のポテンシャルを十分に引き出す出すための実装技術もその製品化には極めて重要である。本講演では、最新シリコンパワーデバイスの状況からSiC・GaNパワーデバイスの最新技術を、さらには最新の実装技術についても解説する。
SiCデバイスやGaNデバイスのプロセスはSiのそれと何が違うのか?特長は?課題は?また素子設計をする上でSiC、GaN特有のポイントは何かあるのか?など、今年開催された国際学会での内容を紹介しながら丁寧に解説したい。
開催日時 |
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開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
カテゴリー | 電気・機械・メカトロ・設備 |
受講対象者 | ・パワー半導体、パワーエレクトロニクスに携わっている企業の技術者の方 (LSI、電源、電子部品、電子・電力機器、車載機器その他関連企業の技術者) |
予備知識 | ・工学的な基礎知識があれば十分です |
修得知識 | ・パワーデバイス全般の動向 ・高温対応実装技術および信頼性設計 ・SiC・GaNパワーデバイスの最新技術と開発および、今後の展開 |
プログラム |
1.パワーエレクトロニクスの基礎 2.SiCパワーデバイスの最新技術と技術開発 3.高温対応実装技術 4. GaNパワーデバイスの最新技術と技術開発 5.質疑応答 |
キーワード | SiC GaN IGBT GaN-HEMT SiC-MOSFET SiC-SBD パワー半導体 高温動作対応封資材 |
タグ | 基板・LSI設計、実装、電子部品 |
受講料 |
一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込) |
会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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