〜ソフトウェア開発における不具合の原因と施策、効率的かつ効果的なテストケースの設計、テストプロセスにおけるテスト設計とテスト技法のポイント〜
・高品質と効率の両方を実現するためのテスト手法を体系的に修得するための講座
・高品質な組込み製品を実現するソフトテスト手法を修得し、効率的なシステム開発に活かそう!
〜ソフトウェア開発における不具合の原因と施策、効率的かつ効果的なテストケースの設計、テストプロセスにおけるテスト設計とテスト技法のポイント〜
・高品質と効率の両方を実現するためのテスト手法を体系的に修得するための講座
・高品質な組込み製品を実現するソフトテスト手法を修得し、効率的なシステム開発に活かそう!
組込みソフトウェア開発において、品質の高いソフトウェアを作成するためには、効率的かつ効果的なテストケースを設計する力を身に付けることが大切です。
本講座では、テストプロセス(テスト計画・分析・設計・実施・評価)の考え方にのっとったテスト設計、およびテスト実施の手順を、具体的なテスト手法とともに学習します。
テスト設計においては、開発工程に対応したテスト手法を学習します。
テスト手法には、機能テスト(ブラックボックステスト)、非機能テスト、構造テスト(ホワイトボックステスト)、経験ベースのテスト、回帰テスト(リグレッションテスト)があります。その中でも一般的に使われているブラックボックステストとホワイトボックステストについて具体的に理解します。
テスト実施においては、シミュレーターを使用した論理テスト、およびエミュレーターを使用したマイコンボード上での実機テストを実習をとおして体験し修得します。
開催日時 |
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開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
カテゴリー | ソフト・データ・画像・デザイン |
受講対象者 | 組込みソフト開発に携わる関連部門担当技術者 ・組込みソフト開発のプロセスについて予備知識を持っている方、またこれまでの組込みソフト経験を体系的に理解し直して今後に役立てたいとお考えの方 ・組込みソフトを開発するユーザー系企業およびベンダー系企業の開発部門並びに品質保証部門の方 |
予備知識 | ・組込みソフトウェア開発の経験 |
修得知識 | |
プログラム |
1.ソフトウェアテストの概要
2.テストプロセス
3.開発工程と対応したテスト技法
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キーワード | ソフトウェアテスト テスト設計 テスト技法 ブラックボックステスト 状態遷移テスト ホワイトボックステスト ソフトウェア要求定義 |
タグ | ソフト管理、ソフト教育 |
受講料 |
一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込) |
会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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