１．加速信頼性試験の基礎

（１）．信頼性試験とは

a. 品質と信頼性

b. 故障分布

c. 品質保証の歴史

d. 信頼性試験

（２）．加速試験とは

a. アレニウスプロット/活性化エネルギー

b. 故障メカニズムと活性化エネルギー

c. 実使用状態の設定

２．半導体デバイスの加速試験とそのポイント

（１）．半導体デバイスの故障

a. 故障モード

b. 故障メカニズム

c. 各社の活性化エネルギー

d. Test Element Group(TEG)の活用

（２）．半導体デバイスの信頼性試験

a. 信頼性試験の目的

b. 信頼性試験規格

（３）．加速試験/信頼性課題と対策

a. スクリーニング手法

b. 特性シフト

c. 酸化膜の経時破壊

d. マイグレーション

e. 耐湿性

f. 熱応力

３． リチウムイオン電池の加速試験とそのポイント

（１）．リチウムイオン電池の故障

a. リチウムイオン電池の構造・製造方法

b. セル・パック

c. リチウムイオン電池システムの故障

（２）．リチウムイオン電池の信頼性試験

a. 初期不良・スクリーニング

b. 初期不良の改善事例 （金属異物・磁選機）

c. 保存試験

d. 動作サイクル試験

（３）．実使用の想定試験

a. 休止時間の影響

b. 充電量の影響

c. 充電速度の影響

d. 寿命の改善事例

e. 実使用状態の検討

（４）．リチウムイオン電池の特殊性

（５）．リチウムイオン電池の発火(デモ付)

４． まとめ　加速試験の限界/加速試験の応用等