センサデータ解析における前処理のための信号処理・ノイズ除去技術と異常検知への応用 【弊社研修室】

~ センシングにおける雑音と誤差、各種センサの特徴と用途、判定の前処理としての計測データ処理技術のポイント、異常検知・正常異常判定の実例 ~

・「センシング」や「前処理」の段階に起因する正常異常判定の失敗を防ぎ、データ解析精度向上に活かすための講座!

・センシングにより発生する雑音や計測誤差の対策に焦点を当てた信号処理・ノイズ除去技術を修得し、異常検知・良否判定の精度向上に活かそう!

講師の言葉

 工場のDX化が盛んに検討される昨今、工場の生産現場や生産ラインにおいてはスマートファクトリーやインダストリー4.0の考え方を取り入れることが求められております。その為に工場の各所にセンサを配置して様々なデータが計測されて工場情報の見える化が実現します。

 センサからの計測データを使って具体的には正常異常判定や良否判定・傷の検出等の判定がルールベース又は人工知能(AI)により行われます。それらの状況でF値に代表されるような判定精度が十分であれば問題ないのですが、判定精度が不十分な場合には最終段階のルールベースのルールやAIのネットワーク構成や設定が悪いのではないかとまず疑われる場合が多いのです。

 しかし、実際の現場ではルールベースのルールやAIの設定等が、判定精度が良くない原因である場合はかなり少なくて、その前行程であるセンシングの段階や判定の前処理である信号処理の段階に問題がある場合が大部分なのです。

 そこで、本講習会では、ルールベースやAIによる判定を実行する場合の重要な前段階であるセンシングと計測データの信号処理について、どの様な前処理が良い処理であるのか、実例を交えながら分かり易く説明いたします。

セミナー詳細

開催日時
  • 2025年03月10日(月) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー ソフト・データ・画像・デザイン
受講対象者 ・自動車部品、電子部品、電子機器、産業機械、化学工場、プラント関連企業の技術者の方
・センシングと計測データの信号処理について修得したい技術者の方
予備知識 ・フーリエ変換の初歩的な知識
修得知識 ・良好な判定精度で正常異常判定を行うにはどの様な計測データが必要であるのか
・センシングされた計測データの処理の流れ
・センサ機器の選択方法と使い方
・正常異常判定を行う為の計測データの前処理法と信号処理
プログラム

1.工場におけるセンシングと計測データ処理

  (1).センサデータからの工場情報の見える化と正常異常(良否)判定

  (2).ルールベースによる判定

  (3).人工知能(AI)による判定

  (4).センシングから判定までの流れ

 

2.センシングにおいて発生する雑音と誤差

  (1).工場データの見える化のための計測

  (2).信号と雑音

  (3).計測誤差

  (4).ガウス分布と中心極限定理

  (5).最小二乗法

  (6).雑音や計測誤差に対する対策

 

3.センシングのためのセンサ:特徴と用途

  (1).電流センサ

  (2).加速度・振動センサ

  (3).音センサ・マイク

  (4).カメラ・イメージセンサ・ラインセンサ

  (5).TOFセンサ・LiDAR

  (6).新しいセンサ

  (7).各センサからのデータ収集

 

4.判定の前処理としての計測データ処理技術のポイント

  (1).NumPyを使った行列計算と信号処理

  (2).雑音成分の抑制・除去

  (3).ディジタルフィルタ

  (4).非線形フィルタ

    a.メディアンフィルタ

    b.ε分離非線形ディジタルフィルタ

  (5).スペクトル解析

  (6).非定常スペクトル解析

    a.短時間フーリエ変換

    b.ウェーブレット変換

  (7).画像処理

    a.照明の選定

    b.画像データの雑音抑制

    c.画像の加工

    d.画像の特徴量抽出

  (8).カルマンフィルタ

  (9).データクレンジング

 

5.ルールベースやAIによるセンサデータからの異常検知(正常異常判定)の実例

  (1).正常なデータ(良品)と異常な場合のデータ(不良品)が得られる場合

  (2).異常な場合のデータ(不良品)が得られない場合

  (3). Neural Network Consoleのセンサデータへの適用と判定

キーワード センサデータ 工場データ 信号と雑音 ガウス分布 中心極限定理 最小二乗法 計測誤差 ディジタルフィルタ スペクトル解析 短時間フーリエ変換 ウェーブレット変換 カルマンフィルタ データクレンジング 正常異常判定
タグ 信号処理データ解析
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)
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