SiC/GAN/酸化ガリウムパワーデバイス技術の基礎と高温対応実装技術

~ 新材料(SiC・GaN・酸化ガリウム)パワーデバイスと実用化へのポイント、高温環境における実装技術 ~

・SiC/GANパワーデバイス技術の基礎から高温環境における実装技術を修得し、信頼性の高い製品開発に応用するための講座
・最新のパワーデバイスを活用した開発技術を修得し、高性能な製品開発に応用しよう!

講師の言葉

 2024年現在、世界各国は自動車の電動化(xEV)開発に向け大きく進展している。そして2030年代には日、米、欧、中がガソリン車の新車販売を禁止するなど、xEVは、もはや大きな潮流となった。
 xEVの性能を決める基幹部品であるパワーデバイスでは、最新シリコンIGBTに加えSiCデバイスも普及が始まりつつあり、今後はSiCを中心にした新材料パワー半導体デバイスの伸長が大いに期待されている。今後、SiCを中心とした新材料パワーデバイスが大きく伸びるためのポイントは何か。最強の競争相手であるシリコンパワーデバイスの最新技術ならびに新材料パワーデバイスの開発技術の現状と今後の動向について、実装技術、市場予測を含めて詳しく解説する。

セミナー詳細

開催日時
  • 2024年04月15日(月) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 電気・機械・メカトロ・設備
受講対象者 ・パワーデバイス、パワーエレクトロニクス事業に携わっている企業の方
・自動車、半導体、家電、電気・電子機器その他関連企業の技術者の方
予備知識 ・パワエレ製品に関する業務経験(2~3年以上が望ましい)
修得知識 ・MOSFET、IGBT構造を理解し、パワーデバイス製品の設計ポイントを修得できる
・パワーデバイスの基礎ならびに新材料パワーデバイスの特長について修得できる
・新材料デバイス実装技術、並び、新材料デバイス特有の設計、プロセス技術について修得できる
プログラム

1.パワーエレクトロニクス(パワエレ)ならびにパワーデバイスの定義
  (1).パワエレとパワーデバイスの仕事・役割
  (2).パワーデバイスの主な適用製品と市場規模
  (3).パワーデバイスの種類と基本構造
  (4).パワーデバイスの開発のポイント

2.シリコンパワーデバイスの進展
  (1).パワーデバイス市場の現在と将来
  (2).最新シリコンパワーデバイス構造
  (3).次世代シリコンIGBTを支える三つの技術
  
3.SiCパワーデバイス技術と製品応用・例
  (1).半導体デバイス材料の変遷
  (2).なぜSiCがワイドバンドギャップ半導体のなかでトップランナーなのか
  (3).SiC/GaNのシリコンに対する利点
  (4).SiCならびにGaNデバイス構造
  (5).SiC-MOSFETのSi-IGBTに対する勝ち筋
  (6).SiCパワーデバイス実用化の4つの課題
  (7).SiC-MOSFETのコスト構成解析例
  (8).SiCを「切る」、「削る」に新技術
  (9).SiC MOSFET低オン抵抗化が低コスト化につながるわけ
  (10).SiC MOSFETデバイス技術
  (11).内蔵ダイオード信頼性対策技術(高信頼性特性の実現)
  (12).将来のSiC-MOSFET構造

4.GaNパワーデバイスの現状と製品応用
  (1).SiCとGaNデバイス構造比較
  (2).GaNは横型HEMTデバイスが主流、その理由は
  (3).GaN-HEMTデバイスの特徴
  (4).ノーマリーオフ特性はなぜ重要か?
  (5).GaN-HEMTのノーマリ-オフ化の進展
  (6).GaNはパワーIC化へ
  (7).縦型GaNデバイスのへの挑戦
  (8).縦型GaN.vs.縦型SiC競争の行方

5.酸化ガリウムパワーデバイスの特徴と製品開発
  (1)酸化ガリウムの特徴
  (2)酸化ガリウムパワーデバイスの魅力
  (3)酸化ガリウムパワーデバイスの最新開発状況
  (4)酸化ガリウムパワーデバイスの課題

6.高温環境で対応するための実装技術
  (1).SiCパワーデバイスは特性がよすぎて使いにくい?
  (2).SiC-MOSFETのスイッチング波形
  (3).実装技術が解決のキーポイント
  (4).モジュール構成材料の熱伝導率
  (5).銀または同焼結接合技術
  (6).主なSiC-MOSFET開発企業と今後の展開

7.まとめ

キーワード パワーエレクトロニクス 電気 電子 シリコン SiC GaN MOSFET IGBT HEMT デバイス EV 高温 熱設計 耐久 信頼性 ワイドバンドギャップ半導体 xEV HEV プラグイン 電源
タグ 電気電子機器電子部品LSI・半導体
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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