～ 画像認識のキー技術、光学系と画像処理の最適化設計、画像認識技術、外観検査技術の実例、画像認識技術を用いた欠陥検査 ～
・画像認識技術、ディープラーニングの基礎から外観検査アルゴリズム開発のポイントまでを修得し、高精度な検査技術に活かすための講座
・機械学習技術を活用した外観検査技術の概要とキーポイントが修得できる特別セミナー！
外観検査における画像認識技術およびディープラーニングの基礎と活用のポイントおよび応用例 ＜オンラインセミナー＞
講師の言葉
近年、自動運転を始めとする多彩なアプリケーションに必要な技術として盛り上がっている機械学習を用いた画像認識技術とそこで使用されるディープラーニングの基礎について説明致します。具体的には、光学系を用いた画像の撮影に関する技術から、画像認識技術の概要、一般的な画像認識処理フロー、評価方法、様々な画像認識アルゴリズムについて、また、ディープラーニングの基礎、それらの外観検査技術への応用例を含む、外観検査技術全般にわたり解説致します。ディープラーニングをはじめとする機械学習ベースの画像を用いた外観検査技術に興味がある方におすすめ致します。
セミナー詳細
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | オンラインセミナー |
| カテゴリー | オンラインセミナー、ソフト・データ・画像・デザイン |
| 受講対象者 |
・目視・外観検査の自動化システムを開発されている企業のエンジニアの方 ・ディープラーニングをはじめとする機械学習ベースの外観検査技術に興味がある方 |
| 予備知識 | ・予備知識として画像データに対する知識があると理解が深まります |
| 修得知識 |
・ディープラーニングをはじめとする機械学習技術を活用した外観検査技術の概要とキーポイント |
| プログラム |
１．画像認識技術の概要 ２． 画像の撮影 ３．画像認識技術 ４．ディープラーニングの基礎 ５．外観検査技術の実例 ６．画像認識技術を用いた欠陥検査の今後の動向 |
| キーワード |
画像認識 撮影画像 画像処理 光学系 最適化設計 偏光カメラ 特徴量 アルゴリズム 正則化 畳み込みニューラルネットワーク 欠陥検査 ＡＩ 外観検査 ディープラーニング 機械学習 ＦＰＧＡ |
| タグ | AI・機械学習、カメラ、検査、品質管理、画像、画像処理、画像認識、データ分析、計測器、光学 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
オンラインセミナー本セミナーは、Web会議システムを使用したオンラインセミナーとして開催します。 |
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