電子・電気部品における信頼性試験(良品試験)の進め方と故障解析のコツとポイント

~ 信頼性評価試験の基本とコツ、加速度試験による短期間信頼性評価、故障毎による解析のコツ ~

・電子・電気部品の信頼性試験から得られた故障データを効果的に活用し、設計に活かすための講座
・経験豊富な講師から、故障データ活用のノウハウを学び信頼性の高い電子機器開発に応用しよう!

講師の言葉

 消費者が電子・電気製品を使用するとき最も基本的に要求することは性能だけでなく信頼性と安全性です。
 最近は、グローバル化によって電子・電気製品に使われる部品も国際化し、国内製部品はもとより広く海外から部品を調達することは当たり前の時代になっています。安くて、入手しやすく信頼性があり安全な部品をいかに短期間に、かつ的確に採用するかは企業にとって極めて重要な課題の一つです。
 そこで、本セミナーでは主に電子・電気部品の評価や採用する部門の技術者、担当者を対象として初めに電子・電気部品の信頼性評価に関する基礎的事項や注意事項を初め、初期故障を避けるために良品解析(構造解析)の重要性を講義します。また、時間のかかる信頼性評価試験をいかに短時間で行うかの加速試験法について紹介します。そして信頼性評価試験で得られた故障データをどのように扱うか、故障のメカニズムについて詳しく紹介します。

セミナー詳細

開催日時
  • 2020年02月04日(火) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 電気・機械・メカトロ・設備品質・生産管理・ コスト・安全
受講対象者 ・信頼性設計部門、品質保証部門、調達、購買部門の担当者の方
予備知識 ・信頼性業務を経験されていると知識が深まります
修得知識 ・信頼性評価試験の基本的な考え方について理解できる
・信頼性評価試験で得られた故障データの活用法を理解できる
プログラム

1.信頼性の基礎
  (1).信頼性試験に関する基礎的事項
  (2).信頼性試験をする上での注意事項
  (3).新規調達部品の認定評価の考え方

2.初期故障を避けるための良品解析とコツ
  (1).構造解析(良品解析)の重要性と例
    a.良品解析の意義と手順
    b.目視検査(VT検査)
    c.初期特性の検査
    d.非破壊検査による内部観察
  (2).短期間に信頼性を評価する加速試験法
    a.加速性があるとは?
    b.限界試験(ストレス増加試験、ステップストレス試験)
    c.ステップストレス試験による加速係数
    d.温度サイクル試験(気相熱衝撃試験、液相熱衝撃試験)
    e.高温・高湿バイアス試験(THB)
    f.超加速試験HAST(不飽和高温、高湿、定常またはバイアス)
    g.Air-HAST、ワイドレンジHAST、HASTの加速性、HASTの注意事項
    h.HALT、HASS、HASA、CERT(Combined Environmental Reliability Test)
  (3).故障データのワイブル解析
    a.OC曲線(Operating Characteristic Curve:動作特性曲線)
    b.指数分布の信頼限界、ワイブル分布の信頼限界
    c.ワイブル確率紙の使い方、ワイブル解析による改善
    d.寿命予測

3.故障解析技術と進め方のコツ
  (1).部品はなぜ故障するのか?
  (2).温度ストレスによる故障
    a.反応速度論、アレニウスモデル、アレニウス・プロット、活性化エネルギー
    b.加速係数、
    c.Θ℃半原則
    d.アイリングモデル
    e.パープルプレイグ
    f.Fickの拡散の法則
    g.Hertley-Kirkendall効果(カーケンダル効果)
    h.金属間化合物、拡散係数と金属間化合物の成長幅
    i.はんだの脆化現象、カーケンダル割れ
    j.熱疲労、Coffin-Manson則、修正Coffin-Manson則
  (3).湿度ストレスによる故障
    a.湿り空気線図、水蒸気圧、相対湿度、絶対湿度
    b.Vapor Pressure Model
    c.金属の腐食(Corrosion)
    d.標準電極電位系列
    e.酸化・還元反応
    f.ICのアルミ配線腐食現象
    g.異種金属接触腐食(ガルバニック腐食)
    h.イオンマイグレーション、デンドライトの形成メカニズム、Conductive Anodic Filament(CAF)
  (4).物理化学的ストレスによる故障
    a.エレクトロマイグレーション、メカニズム、電流密度とMTTF、エレクトロマイグレーションの対策方法
    b.ストレスマイグレーション
    c.ウイスカ現象と対策、ウイスカ試験規格
  (5).メカニカルなストレスによる故障
    a. 応力集中による故障
    b. フレッティングコロジョン
    c.環境応力割れ(ESC)
    d.環境応力腐食割れ(ESCC)
    e.累積損傷モデル(マイナー則)、S-N曲線、一般化マイナー則

キーワード 信頼性試験 良品解析 解析 検査 信頼性 限界耐久 加速試験 ワイブル解析 マイグレーション 応力 S-N比 電子機器
タグ 信頼性試験・故障解析電子機器電子部品
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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