品質データの統計的分析法と品質向上への活かし方 ~1人1台PC実習付~

~ 品質の定義、統計的アプローチによる品質マネジメント、 変数間の相関、製品開発段階で信頼性を高める方法 ~

・品質に関するデータのとり方や分析法および活用法までを修得し、品質向上へ活かすための講座
・経験豊富な講師から、多くの品質データをうまく取り扱うためのノウハウを修得し、高品質な製品開発に応用しよう!
※PCは弊社で用意いたします

講師の言葉

 日本はモノづくりだけでなく日本式サービスそれをマネジメントする技術・技法の活用が求められています。消費者や買い手のニーズに合致した品質の製品やサービスを適正な価格で提供することは、企業の使命です。
 この研修では、品質にかかわるデータの取り方、その分析法および活用に至るまでの品質マネジメントに関するツールと技法を理解することをねらいとします。

セミナー詳細

開催日時
  • 2020年01月09日(木) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 品質・生産管理・ コスト・安全
受講対象者 ・品質に関するデータは多くあるものの、どう扱えば良いか悩まれている方
・統計的手法による品質データの活用法を学びたい方
・製品開発、品質管理、信頼性ほか関連部門の方
予備知識 ・確率統計学の基礎知識
修得知識 ・様々な業界での品質マネジメントに関するツールと技法を理解し活用できる
・品質マネジメントのツールと技法および統計的手法の知識と活用方法を理解できる
プログラム

1.品質の定義
  (1).品質とは何か
  (2).品質の対象となる機能の例
  (3).製品品質のばらつきの要因
  (4).測定したデータのばらつきを把握する

2.確率・統計の基礎
  (1).品質マネジメントと確率・統計の関連
    a.統計的アプローチによる品質マネジメント
    b.統計的品質管理
  (2).データの尺度とばらつき
    a.質的変数と量的変数の違い
    b.測定尺度と比率尺度の違い
  (3).基本統計量
  (4).統計と分析ツールの導入、予測モデルの作成

3.変数間の関連を見る
  (1).二つの変数の関連性の要約
  (2).事実に基づく管理
    a.ありがちな失敗例
    b.失敗しないための実践法
  (3).データを取得する際の注意点
  (4).パレート図
    a.格差を統計的に図るための方法
    b.現代でよくパレートの法則が用いられる事象

4.二項分布、抜き取り検査の考え方
  (1).確率と二項分布
    a.確率変数と確率分布
    b.期待値と分散
    c.離散型と連続型確率変数の違い
    d.確率関数と確率密度関数
  (2).抜き取り検査の考え方
  (3).散布図

5.相関と回帰、条件付確率
  (1).相関と回帰
    a.相関係数と評価の目安
    b.共分散による実績データの見える化
    c.見かけの相関(相関が有るもしくは無いように見える)
    d.カイ二乗統計量
    e.カイ二乗分布は自由度で決まる
  (2).層別
    a.層別で異常値や相関が見える?
    b.事前層別と事後層別
    c.層別をして特徴を抽出する

6.正規分布と工程能力
  (1).期待値と分散
  (2).分散の加法性
  (3).標本平均の分布
  (4).1シグマ、2シグマ、3シグマの法則

7.標本抽出と様々なアプローチ
  (1).発想法
  (2).親和図法
  (3).系統図法

8.製品開発段階で信頼性を高める手法
  (1).品質機能展開(QFD)
  (2).要求品質展開表と品質特性展開表の使い方
  (3).QFDとSECIモデルの関連
    ・暗黙知と形式知
  (4).CPM(Critical Path Method)による工程の見える化とマネジメント
    a.クリティカルパスを見つける手順
    b.クリティカルパスを見つけた後のマネジメント
    c.スケジュール短縮とコスト

9.統計的推定
  (1).統計的推定による推定誤差をコントロール
  (2).PDPC法の特徴と如何にして活用するか
  (3).主成分分析の使い方
    a.Excelで行う手順
    b.データの読み取り方

10.統計的仮説検定
  (1).仮説検定
    a.帰無仮設と対立仮設
    b.帰無仮説の受容と棄却を判断するポイント・例
  (2).ソルバーで主成分の係数を最適化する
  (3).第一主成分、第二主成分の係数描画と解釈
  (4).統計的仮説検定の例

11.本研修のまとめ
     得られた統計データを品質向上へと繋げる

キーワード 特性要因図 チェックシート ヒストグラム パレート図 散布図 層別 管理図 発想法 工程能力 モンティホール問題 相関と回帰 条件付確率 カイ二乗統計量 親和図法 連関図法 系統図法 マトリックス図 アローダイアグラム PDPC法 マトリックスデータ解析法 QFD品質機能展開 統計的推定 統計的仮説検定
タグ 技術伝承業務改善検査品質管理
受講料 一般 (1名):51,700円(税込)
同時複数申込の場合(1名):46,200円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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