~ 電子デバイスの品質保証システム、故障モ-ドとメカニズム、設計容易化および信頼性解析手法 ~
電子デバイス製品の品質を向上させるための技術や仕組みを解説する講座
国際標準の規格化に取り組んできた講師の方が品質信頼性技術について詳解する特別セミナー!
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電子デバイス製品の品質を向上させるための技術や仕組みを解説する講座
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電子デバイスの品質向上技術とそのポイントとして、お客様が製品に求める“品質保証”はお客様の製品応用技術の高度化に伴い、またこれに応えるための、電子デバイス製造技術の進化に伴って、時代と共に質的な変化をするものです。この“品質保証”の継続的な向上を進めるために、時代の進展とともに、新たに出現する品質向上に関わるパラダイムシフトを着実に捉えた対応が必要です。電子デバイス製品の製造プロセスが微細化し、これに伴って、チップに搭載される機能素子が大幅に増加すると、この電子デバイス製品の品質を向上させるために、“品質向上のための仕組み”のパラダイムシフト“が重要となります。
これらについて具体的に具現化した事例として、日本発、世界標準:半導体部品認定ガイドラインの紹介として、『品質・信頼性を確保する新しい信頼性認定規格(IEC 60749-43)の紹介:(半導体集積回路信頼性認定ガイドライン(EDR-4708B))』があります。これらについても応用編としてわかり易く解説いたします。
開催日時 |
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開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
カテゴリー | 電気・機械・メカトロ・設備、品質・生産管理・ コスト・安全 |
受講対象者 |
・電子デバイスを扱う企業の技術者の方 (産業機器、自動車、デジタルコンシューマ、マルチマーケット分野等) |
予備知識 | ・信頼性に関する基礎知識があると分かりやすい |
修得知識 |
・電子デバイス信頼性保証体系とその技術 ・電子デバイス信頼性品質技術、認定規格とその試験方法 |
プログラム |
第一部 <電子デバイスの品質・信頼性の基礎> 1.品質保証システム 2.電子デバイスの信頼性 3.故障モ-ドとメカニズム 4.故障解析 5.設計容易化および信頼性解析手法 6.電子デバイスの使用にあたって 第二部 <電子デバイスの品質水準事例> 1.品質水準と用途 2.信頼性の基本的概念 3.品質保証プログラム 第三部 応用編 <電子デバイスの品質向上技術とそのポイントの事例> 2.組織 3.体制 4.活動の背景 5.認定ガイドライン概要 6.最新活動状況 7.ガイドラインのメリット 8.認定WGからの期待とお願い |
キーワード | 品質保証システム 変更管理 製造品質保証システム 統計的手法 信頼性試験 故障率の予測 故障モ-ド 故障解析 品質機能展開 パラメ-タ設計 テスト容易化設計 FMEA 品質水準 |
タグ | 信頼性試験・故障解析 |
受講料 |
一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込) |
会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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営業時間 月~金:9:00~17:00 / 定休日:土日・祝日