〜 故障解析の定義と重要性、故障解析の進め方、電子・イオン・X線の振る舞いと材料との相互作用および特性の正しい理解のしかた、X線の最新革新技術 〜
・目的にあった最適な分析方法を効率良く利用し、正しくデータ解析するための講座
・故障や信頼性の重要問題となっているミクロの欠陥を暴き、製品の信頼性向上に活かそう！
高機能材料・電子材料、高密度部品の故障解析技術と信頼性向上への応用
講師の言葉
高機能・高密度材料や部品は、ミクロン〜サブミクロン〜ナノ部位の故障や信頼性が重要問題である。このため、微小部分析や表面・界面分析が必須である。他方、微小部や表面・界面の分析法は非常に多種あり、目的にあった最適方法を見つけ、効率よく利用し、正しくデータ解析をするのは容易なことではない。よく利用される電子やイオン・Ｘ線の振る舞いと特性を正しく理解するのは手法の選択とデータ解析に非常に有用である。また、ミクロの分析結果・極表面の分析結果には、隠された真実があり、美しいデータ・興味深いデータが必ずしも正しいデータとは限らない。さらに、起きている現象が、故障の原因なのか、故障の結果なのかの判断も重要である。事例と分析結果を示すとともに、データに隠された真実を指摘する。さらに、最新の革新技術の紹介も行う。
セミナー詳細
| 開催日時 |
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|---|---|
| 開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
| カテゴリー | 加工・接着接合・材料、品質・生産管理・ コスト・安全 |
| 受講対象者 | ・高機能材料、電子材料、高密度電子部品などの品質保証・開発・分析解析の実務者、管理者の方 |
| 予備知識 | ・電子、イオン、Ｘ線／電磁波、電場、磁場、真空などに対する高校理科教材程度の知識 ・ミクロン、ナノ等用語への一般理解 |
| 修得知識 | ・故障の原因としての現象と故障の結果としての現象の正しい判別 ・故障解析に用いている分析装置への総合理解が進むと共に、汎用的な微小部分析法・表面界面分析法の常識の幾つかの間違いに気づき、正しい解析への理解が進む ・最新の革新的技術で、なおかつ、通常の分析室実験室で利用できる新技術を知ることもできる |
| プログラム |
１．故障解析とは
２．故障状態の解析
３．必須である材料微小部・表面・界面の解析
４．故障解析の事例
５．微小部・表面・界面解析の落とし穴
６．非破壊分析に有効なＸ線の最新革新技術
７．信頼性向上への応用 |
| キーワード | 故障解析 動作解析 材料解析 異物混入 組成異常 汚染 プローブ径 走査像 非破壊分析 |
| タグ | 分析、信頼性試験・故障解析、材料、プリント基板、基板・LSI設計、電子部品 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿２－７－１ 新宿第一生命ビルディング（２２階）- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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