3次元計測の基礎と高速・高精度化 および開発ポイント 〜デモ付〜

〜 高速・高精度・小型化を容易にする3次元計測装置の設計手法と最新技術 〜

・非接触での計測を可能とする3次元計測技術について、基礎から設計手法まで分かりやすく解説する講座

・高速・高精度な3次元計測技術の導入により、自社の計測技術向上を実現し、応用するための特別講座!

講師の言葉

 非接触で3次元計測を行う技術は、FA分野における製品検査だけでなく、医療分野や服飾、考古学などの分野でも広く活用されている。また最近流行の3Dプリンタの入力装置としても注目されている。今後、より高速で、高精度で、小型な3次元計測装置のニーズはますます高まってくるであろう。

 本講座では、非接触3次元計測技術の基礎として、必要な装置の構成と投影格子の位相解析手法、全空間テーブル化手法、ラインLEDデバイスなどを紹介する。これらを取り入れることで、高速化・高精度化・小型化することが容易になる。さらに目標精度を満たす計測装置の設計も容易となり、3次元計測装置を簡単に作ることができるようになる。ハードとソフトの開発のポイントについても説明する。

セミナー詳細

開催日時
  • 2018年02月15日(木) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 電気・機械・メカトロ・設備ソフト・データ・画像・デザイン
受講対象者 ・業種は問わず、3次元計測に興味のある方 ・高速な3次元計測や高精度な3次元計測にこれから取り組もうとする技術者の方
予備知識 ・特にございません。難しい数学も使いません(三角関数程度)
修得知識 ・画像計測の基礎知識 ・格子パターンの位相解析による高精度化 ・三次元計測に必要な装置構成 ・高速化手法 ・小型化技術 ・計測誤差の予想とその低減手法 ・三次元計測装置の設計手法 ・今後の展望 など
プログラム

1. 三次元計測の基礎

(1). 撮影の基礎

(2). 画像とは

(3). 三次元計測手法の分類

(4). 格子投影の位相解析手法

(5). キャリブレーション

2. 三次元計測に必要な装置構成

(1). 撮像装置(カメラ)

(2). 格子投影装置(プロジェクタ)

(3). キャリブレーション装置(基準面)

3. 全空間テーブル化手法

(1). 原理

(2). 系統的誤差が入らず高精度に計測できる理由

(3). 応用例

4. 光源切替位相シフト法

(1). 原理

(2). ライン状LEDデバイス

(3). 計測例

5. 計測誤差の原因とその対策

(1). 誤差要因について

(2). 系統誤差とランダム誤差

(3). 誤差低減手法

(3). 温度変化、振動、反射率、ピントなどの影響と対策

6. 三次元計測装置の設計手法

(1). 目標設定(計測精度、計測領域、対象物、時間、速度)

(2). 計測対象物の表面性状について

(3). 必要な装置構成の検討手法

7. 試作時のポイント

(1). ハードウェアのポイント

(2). ソフトウェアのポイント

8. まとめと今後の展望

(1). 高速化、高精度化、小型化、低価格化の手法

(2). 今後のニーズ予想

キーワード 三次元計測 全空間テーブル化手法 光源切替位相シフト法 系統誤差 ランダム誤差
タグ 計測器
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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