〜 官能検査、識別検査、計測検査、欠陥検査の自動化例、画像処理による3次元計測、膜厚計測、AIの利用 〜
・豊富な事例を通して、高精度化が進む検査自動化のための画像処理技術を修得し、応用するための講座
・目視検査自動化のための体系的な技術をエキスパートの方から学び、システム構築に活かそう!
〜 官能検査、識別検査、計測検査、欠陥検査の自動化例、画像処理による3次元計測、膜厚計測、AIの利用 〜
・豊富な事例を通して、高精度化が進む検査自動化のための画像処理技術を修得し、応用するための講座
・目視検査自動化のための体系的な技術をエキスパートの方から学び、システム構築に活かそう!
Apple IIにTV カメラを繋ぎ、モニターに白黒画像が映って感激したのが1981年。それ以来、30年以上の間、民間企業のエンジニアとして、画像処理による目視検査自動化に取り組んできました。また、ウエーハパターン検査装置、液晶基板検査装置、光干渉式表面形状測定装置などの商品化・事業化にも携わりました。
本セミナーでは、FA用画像処理の基礎から応用までを、多くの実例に基づいて解説します。画像処理に興味をお持ちの方、画像処理関係のメーカの方、目視検査自動化を担当されているユーザの方にとって、お役に立つと信じます。
開催日時 |
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開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
カテゴリー | 品質・生産管理・ コスト・安全 |
受講対象者 | ・FA用画像処理を扱っている方 ・検査装置を扱っている技術者の方 ・目視検査自動化のための画像処理に興味をお持ちの方 |
予備知識 | ・特に必要ありません |
修得知識 | ・FA用画像処理システム構築のための要素技術と実施例 |
プログラム |
1.目視検査自動化のための画像処理概論
2.目視検査自動化のための光学系技術
3.目視検査自動化のための画像入力系技術
4.目視検査自動化のためのソフト技術
5.応用事例 1
6.応用事例 2
7.応用事例 3
8.最新トピックス |
キーワード | 目視検査自動化 3次元干渉計測 テレセントリック あおり光学 オートフォーカス 特殊イメージング 特徴量抽出 アライメント 官能検査 識別検査 計測検査 欠陥検査 3次元計測 膜厚計測 ライトフィールドカメラ 気付きアルゴリズム AI |
タグ | カメラ、検査、画像、画像処理、画像認識、光学 |
受講料 |
一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込) |
会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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営業時間 月~金:9:00~17:00 / 定休日:土日・祝日