• 2017年02月02日(木) 10:30 ～ 17:30

第１部

１． 赤外分光法の基礎とスペクトルの解析法

　　(1). 赤外分光法の基礎

　　(2). スペクトルの解析法の基礎

　　(3). スペクトルの帰属の例

　　(4). 検索プログラムを利用した解析法

２． FTIRの原理

　　(1). FTIRの装置の原理〜IRスペクトルが得られるまで〜

　　(2). 最適な測定パラメータの設定

３． 各種測定法の原理とスペクトルの取扱

　　　〜正しいスペクトルの取得、データ処理、解析事例〜

　　(1). 透過測定の手法と測定テクニック

　　(2). ATRを中心とした反射測定の原理と測定テクニック

４． 顕微FTIR

　　(1). 顕微FTIRの原理

　　(2). 顕微FTIRの付属品を含めた試料の分析

　　(3). 質の高いデータ取得のためのテクニック〜前処理編〜

　　(4). 質の高いデータ取得のためのテクニック〜測定編〜

　　(5). 赤外イメージングの測定事例

５． Appendix　顕微ラマン分光法：基本的な事項を紹介します

6. 質疑応答・分析相談

第２部

１． 走査電子顕微鏡を用いた材料解析

　　(1). 走査電子顕微鏡の原理

　　　　a. 光学顕微鏡と走査電子顕微鏡の違い

　　　　b. 電子と物質との相互作用

　　(2). 走査電子顕微鏡の種類と構造

　　　　a. 各種走査電子顕微鏡の紹介

　　　　b. 走査電子顕微鏡の構造

　　(3). 走査電子顕微鏡を用いた解析事例

　　　　a. 工業材料

　　　　b. 生物･食品材料

　　(4). 異物分析のための観察条件設定

２． 走査電子顕微鏡とX線分光器(SEM／EDS)を用いた分析

　　(1). X線の発生と検出

　　(2). 各種異物分析事例(定性分析、定量分析、元素の分布（元素マッピング）

３． 試料前処理

　　(1). 試料前処理

　　　　a. 観察、分析できるもの、できないもの

　　　　b. 各種(液体、粉末等)試料処理方法

　　(2). 断面作製

　　　　a. 試料割断

　　　　b. アルゴンイオンによる断面作製

　　(3). 導電性コーティング

　　(4). 非導電性試料の分析

４． 質疑応答・分析相談

　　　・講演内容、および各種試料の解析法などについて

日本テクノセンター研修室