電子・電気部品の故障メカニズムと的確な信頼性評価の短期化

〜 温度(熱)・湿度・物理化学的ストレスによる故障メカニズム、良品解析、加速試験、品質工学による機能性試験法 〜

様々なストレス下における故障のメカニズムや合理的かつ短期間に信頼性を評価する方法を修得する講座

安くて信頼性ある部品を短期間にかつ的確に採用するためのノウハウを修得するための特別セミナー!

講師の言葉

 消費者が家電製品や電気・電子機器を使用するとき最も基本的に要求することは信頼性と安全性があることである。最近はグローバル化によって電子・電気製品に使われる部品も国際化し、国内製品はもとより広く海外から部品を調達することは当たり前の時代になっている。安くて、入手し易く、かつ信頼性がある部品をいかに短期間に、かつ的確に採用するかは企業にとって極めて重要な課題の一つである。
 そこで、本セミナーでは主に電子・電気部品を評価・採用する部門の技術者、担当者を対象に、部品の信頼性評価の歴史から遡って現代のニーズから照らして、どのように短期間に評価したら合理的に評価できるかを紹介する。
 その為には基本的知識として、様々なストレス下における故障のメカニズムを学び、次いで合理的かつ短期間に信頼性を評価する方法を紹介する。この中で注目すべきは従来余り顧みられなかった品質工学(タグチメソッド)の機能性評価法を信頼性評価に導入する方法を事例を交えて基礎から学ぶ。

セミナー詳細

開催日時
  • 2016年10月06日(木) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー 電気・機械・メカトロ・設備品質・生産管理・ コスト・安全
受講対象者 ・電子・電気部品の評価担当者、信頼性設計・評価者、品質保証部門の担当者の方 ・調達・購買部門の技術スタッフの方
予備知識 ・信頼性工学・品質保証・信頼性評価試験・品質工学の基礎知識があると理解しやすい
修得知識 ・部品の故障メカニズム、構造解析(良品解析)、部品の試験規格、加速試験法、タグチメソッドによる機能性評価
プログラム

1.調達部品の短期認定評価と部品の信頼性
  (1).信頼性の歴史からみた部品に関する信頼性評価法
     a.信頼性評価試験規格の歴史
     b.信頼性試験に関する用語
     c.部品に関する信頼性試験規格について
       ・JIS規格、MIL規格、IEC規格、加速試験の国際規格IEC62506
  (2).調達部品の短期認定評価の考え方
  (3).部品の信頼性はその使い方によっても変わる

2.部品はなぜ故障するのか 〜 故障のメカニズムを知る 〜
  (1).ストレスの種類
  (2).温度(熱)ストレスによる故障メカニズム
     a.反応速度論とアレニウスモデル、活性化エネルギー、Θ℃半原則、α乗則、アイリングモデル、Fickの拡散の法則、カーケンダル効果
     b.故障事例(パープルプレイグ、はんだの脆化現象、熱疲労現象)
  (3).湿度ストレスによる故障メカニズム
     a.湿り空気線図、水蒸気圧、相対湿度、絶対湿度、Vapor Pressure Model、標準電極電位系列、酸化・還元反応、カソード反応、アノード反応、イオンマイグレーション、CAF
     b.故障事例(金属の腐食、ICのアルミ配線腐食、ガルバニック腐食)
  (4).物理化学的ストレスによる故障メカニズム
     a.エレクトロマイグレーション、ストレスマイグレーション、ウイスカ現象、ホットキャリア劣化現象
  (5).放射線ストレスによる故障メカニズム
     a.α線によるメモリ誤動作現象
  (6).メカニカルストレスによる故障メカニズム
      a.応力集中破壊、環境応力腐食割れ現象、S-N曲線とマイナー則、時間依存形破壊

3.短期間にかつ的確に評価するにはどうしたら良いか
  (1).構造解析(良品解析)の重要性と解析手順と解析事例
  (2).短期間に信頼性を評価する加速試験法
     a.限界試験とステップ゚ストレス試験
     b.超加速試験法 HST、THB、HAST、Air−HAST
     c.超加速複合試験法 HALT、HASS、HASA
  (3).品質工学(タグチメソッド)による機能性評価による試験法
     a.実験計画法からタグチメソッドまでの変遷
     b.機能性評価法とは
     c.二段階設計法
     d.機能性評価に関する主な用語の解説
     e.機能性評価法を使った評価事例

4.まとめ
  (1).調達部品の信頼性・安全性評価の手順
  (2).RACER法による意思決定
  (3).本日のセミナーの復習
  (4).質疑応答(Q&A)

キーワード 信頼性試験 温度(熱)ストレス 湿度ストレス 物理化学的ストレス 放射線ストレス メカニカルストレス 良品解析 加速試験法 品質工学 タグチメソッド RACER法 エレクトロマイグレーション ストレスマイグレーション ウイスカ ホットキャリア
タグ 信頼性試験・故障解析調達電子機器電子部品
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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