〜 ＬＥＤの基本特性と寿命試験、外観検査技術と内部解析技術、ＧａＮ系ＬＤ、ＬＥＤ、ＶＣＳＥＬの信頼性と劣化低減策 〜
・高信頼化の鍵を握る劣化解析技術と抑制方法について長年にわたる講師の豊富なデータに基づいて解説する講座
・発光デバイスの劣化メカニズムと信頼性解析技術を経験豊富な講師から学び、製品の信頼性向上へ活かそう！
ＬＥＤの劣化メカニズムと解析技術および信頼性向上への応用
講師の言葉
半導体レーザ・発光ダイオードなどの半導体発光デバイスは、大中容量ファイバ通信システム用の光源のみならず、オーディオ/ディジタルシステムなどの民生機器用光源や光プリンタ用光源、最近では、白色ＬＥＤをベースにした各種照明、ディスプレイなど極めて多岐にわたる領域に用いられており、その材料・構造も多種多様となっています。そのため、高性能で信頼性の高い製品を開発するには、発光デバイスの信頼性向上が重要な鍵を握っているといっても過言ではありません。しかし、その故障（劣化）の原因を解析・究明するためには、経験に基づいた知識を持ち、かつそれをうまく応用できる技術者が不足しているため、より信頼性の高いデバイスを開発・供給できないのが実情です。
そこで、今回は、こうした発光デバイスの高信頼化の鍵を握る劣化解析および劣化解析事例について、本講師の永年にわたる豊富なデータに基づいて、デバイスの各種信頼性試験、信頼性解析のフローチャートと要素技術、解析する際の留意点などについて触れ、講義の中核の事例では、発光デバイスの基本的な劣化解析事例や派生的な劣化の解析事例および劣化の抑制方法を示します。今回は、LED、特に、赤外LED、青色LED、VCSELの技術動向および信頼性研究の最新情報に焦点を当て、各種劣化モードの事例を示しながら、詳しく解説致します。
セミナー詳細
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
| カテゴリー | 電気・機械・メカトロ・設備、加工・接着接合・材料、化学・環境・異物対策、品質・生産管理・ コスト・安全 |
| 受講対象者 | ・半導体発光デバイス、特に、各種LED、VCSELの研究、開発、設計、製造、信頼性試験・解析に従事している方 ・光マイクロエレクトロニクス、光学関連材料、光実装の関連分野の方 |
| 予備知識 | ・半導体発光デバイスの研究、開発、設計、製造、技術、信頼性評価に関する一般的な知識 |
| 修得知識 | ・発光デバイス（LED、VCSEL）の劣化メカニズムを把握し、劣化要因低減の方策が得られ、製品の高信頼化を図って行く上でこれからの実績に生かすことができます |
| プログラム |
１．各種LEDの技術動向 ２．LEDの基本特性と寿命試験 ３．LEDの故障（劣化）解析技術 ４．発光デバイス材料の問題点と劣化抑制方法 ５．赤外LEDの故障（劣化）解析事例 ６．GaN系LD、LEDの信頼性 ７．VCSELの信頼性 ８．劣化低減への方策 |
| キーワード | LED 発光デバイス 劣化メカニズム GaN VCSEL 寿命試験 外観検査 内部解析 |
| タグ | 精密機器・情報機器、信頼性試験・故障解析、電子部品、LED・有機EL・照明 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿２－７－１ 新宿第一生命ビルディング（２２階）- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
こちらのセミナーは受付を終了しました。
次回開催のお知らせや、類似セミナーに関する情報を希望される方は、以下よりお問合せ下さい。
各種お問い合わせは、お電話でも受け付けております。
03-5322-5888
営業時間 月~金：9:00～17:00 / 定休日：土日・祝日