〜 故障解析の基礎とパワーモジュール、SiCデバイスの解析事例、信頼性試験の規格標準化〜
・電力変換のキーデバイスであるパワー半導体の高品質・信頼性を確保するための講座
電子機器へ搭載が進むパワー半導体の信頼性を確保し、機器の高品質・長寿命を実現しよう！
パワー半導体の信頼性・品質確保のための信頼性技術と故障解析・事例
講師の言葉
パワーエレクトロニクスの発展に伴い、電力変換のキーデバイスとしてパワー半導体が注目されている。社会における省エネ化が一層進み、IGBTモジュールに代表されるパワー半導体は搭載される電子機器が拡大しており、高品質・高信頼性が求められる。
今回のセミナーではパワー半導体の信頼性技術動向や故障事例を基に、高品質・高信頼性を確保するために必要な試験技術や故障解析方法について紹介する。またパワー半導体に必要な信頼性試験規格について標準化やガイドラインの最新動向についても解説を行う。
セミナー詳細
| 開催日時 |
|
|---|---|
| 開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
| カテゴリー | 電気・機械・メカトロ・設備 |
| 受講対象者 | ・電子機器における設計開発、信頼性評価、品質保証および管理、購買・資材関連の業務に関わる方 ・電子部品における研究開発、設計、技術、信頼性評価、品質保証関連の業務に関わる方 ・半導体における技術・品質関連の業務に関わる方 |
| 予備知識 | ・特に必要ございません |
| 修得知識 | ・パワー半導体の技術動向 ・信頼性性試験技術や故障解析技術 ・信頼性試験の規格標準化における最新動向 |
| プログラム |
１．パワー半導体について ３． 故障解析技術 ４． 故障解析事例 ５．パワー半導体の信頼性試験の規格標準化 |
| キーワード | パワー半導体 パワーサイクル試験 信頼性 故障解析 パワーモジュール IGBTモジュール SiCデバイス 高電圧OBIRCH |
| タグ | 信頼性試験・故障解析、LSI・半導体 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿２－７－１ 新宿第一生命ビルディング（２２階）- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
こちらのセミナーは受付を終了しました。
次回開催のお知らせや、類似セミナーに関する情報を希望される方は、以下よりお問合せ下さい。
各種お問い合わせは、お電話でも受け付けております。
03-5322-5888
営業時間 月~金：9:00～17:00 / 定休日：土日・祝日