〜設計公差と信頼性、 故障データの取得と設計への活かし方、ワイブル解析の手順演習と解析結果からのアプローチ策〜
・設計段階で品質をつくりこみ、製品開発に応用するための講座
・ワイブル解析や故障データの設計への効果的な活用法を修得し、品質の高い製品開発に活かそう!
〜設計公差と信頼性、 故障データの取得と設計への活かし方、ワイブル解析の手順演習と解析結果からのアプローチ策〜
・設計段階で品質をつくりこみ、製品開発に応用するための講座
・ワイブル解析や故障データの設計への効果的な活用法を修得し、品質の高い製品開発に活かそう!
“開発設計段階で信頼性性能を把握する”。開発設計技術者にとっては、コストと時間という頭の痛い制約を受けながら、労を要する難しい作業の一つです。情報機器や解析ソフトの充実で信頼性性能を効率的に認識できる設計環境が整ってきた昨今ですが、設計品質に起因した度重なる市場クレームが後を絶たないのも事実で、設計品質の向上が、あらためて求められています。
設計品質向上には、各専門技術の知識ベースはもちろんですが、FTAやFMEA、定量統計解析などによる信頼性実力の姿を紐解く手法技術をうまく連動させることで一層の効果を発揮します。
本講座では、信頼性データを扱って定量評価の視点から信頼性実力を把握し、設計品質向上に役立てていくプロセスを切り口に、特に、設計側からのアプローチとしてワイブル解析手法との連動に視点をあてて、信頼性性能を向上させるためのアプローチの考え方を、実例演習を交えて基礎から学びます。
開催日時 |
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開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
カテゴリー | 電気・機械・メカトロ・設備、品質・生産管理・ コスト・安全 |
受講対象者 | ・開発、設計、生産技術業務に従事する技術者の方 業務経験の浅い方、初心者の方にもお奨めします (設計側からのアプローチで講義を進めますが、品質保証関連業務の方も受講いただけます) |
予備知識 | ・特別な予備知識の必要はありません |
修得知識 | ・設計業務における信頼性性能を把握するためのワイブル解析の活用知識の修得 ・製品の開発設計業務における信頼性実力性能を的確に把握するための故障データの取り扱い知識の基本および考え方を修得 |
プログラム |
1.設計でつくりこむ信頼性の本質 2.故障と信頼性 3. 設計に活かす故障データの扱い 4. 設計に活かすワイブル解析の知識 5.ワイブル解析結果からのアプローチ 6.まとめ |
キーワード | 設計品質 ワイブル解析 信頼性データ 設計公差 故障メカニズム ストレス因子 統計処理 |
タグ | 精密機器・情報機器、寿命予測、信頼性試験・故障解析、品質管理、電子機器、電子部品 |
受講料 |
一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込) |
会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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