～ パワーエレクトロニクスの基礎、ノイズ耐性試験手法と寿命診断技術、キャパシタの基礎と信頼性 ～
・パワーエレクトロニクス回路の故障対策・寿命診断を回路レベルの視点から修得し、信頼性向上に活かすための講座
・パワーエレクトロニクス回路内の故障要因の過半数を占めているパワー半導体デバイスとキャパシタの信頼性技術を修得し、高品質な製品開発へ応用しよう！
・ＷＥＢ会議システムの使い方がご不明の方は弊社でご説明いたしますのでお気軽にご相談ください。
パワー半導体デバイスの信頼性と故障対策・寿命診断への応用 ＜オンラインセミナー＞
講師の言葉
２０５０年には最終消費エネルギーに対する電気エネルギーの割合(電力化率)は50％を超えると予想されております。これに伴いパワーエレクトロニクスの需要がさらに拡大し、小型化・低コスト化だけでなく信頼性の向上が急務になっております。パワーエレクトロニクス回路内の故障要因はパワー半導体デバイスとキャパシタだけでその過半数を占めており、これらの故障対策と寿命診断が必要不可欠です。この実現には、パワー半導体デバイスとキャパシタの個別部品レベルではなく、回路レベルでの特性を正確に捉えることが必須です。
本セミナーでは、パワーエレクトロニクス回路の故障対策・寿命診断を回路レベルの視点からアプローチした技術について、パワーエレクトロニクス回路、パワー半導体デバイス、キャパシタの基礎と共に紹介します。
セミナー詳細
| 開催日時 |
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|---|---|
| 開催場所 | オンラインセミナー |
| カテゴリー | オンラインセミナー、電気・機械・メカトロ・設備 |
| 受講対象者 |
・パワーエレクトロニクス機器の研究・開発に関わる技術者の方 ・電気自動車、鉄道車両、インフラ設備などパワーエレクトロニクスを導入している技術者の方 ・パワーエレクトロニクス・省エネルギー技術に関心のある研究機関の方 |
| 予備知識 | ・半導体や回路技術の基礎知識があると理解しやすい |
| 修得知識 |
・パワーエレクトロニクスの回路構成とアプリケーション ・パワー半導体デバイスの信頼性向上に向けた現時点での課題と対策 ・キャパシタの信頼性向上に向けた現時点での課題と対策 |
| プログラム |
１．パワーエレクトロニクスの基礎 ２．パワー半導体デバイスの信頼性と寿命診断技術 ３．キャパシタの信頼性技術とそのポイント |
| キーワード |
パワーエレクトロニクス 回路方式 パワー半導体デバイス 熱回路設計 インバータ動作 寄生パラメータ分析 ダイオード逆回復電流 ノイズ耐性試験手法 寿命診断技術 サーマルリサイクル センサレス・モニタリング コンディションモニタリング インバータ瞬時電力 デジタルツイン |
| タグ | 寿命予測、信頼性試験・故障解析、ノイズ対策・EMC・静電気、パワーデバイス、回路設計、基板・LSI設計、電源・インバータ・コンバータ、電子機器、電子部品 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
オンラインセミナー本セミナーは、Web会議システムを使用したオンラインセミナーとして開催します。 |
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