～ 回路方式と応用分野、パワー半導体デバイスの故障メカニズム、ノイズ耐性試験、キャパシタの基礎と損失測定、コンディションモニタリング ～
・急務となっているパワエレの信頼性向上に不可欠な故障対策・寿命診断技術を修得し、信頼性の高い製品開発に活かすための講座
・パワエレ回路内の故障要因の過半数を占めるパワー半導体デバイスとキャパシタの「回路レベルでの特性」を正確に捉え、電子機器の信頼性向上に活かそう！
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２０５０年には最終消費エネルギーに対する電気エネルギーの割合(電力化率)は５０％を超えると予想されております。これに伴いパワーエレクトロニクスの需要がさらに拡大し、小型化・低コスト化だけでなく信頼性の向上が急務になっております。パワーエレクトロニクス回路内の故障要因はパワー半導体デバイスとキャパシタだけでその過半数を占めており、これらの故障対策と寿命診断が必要不可欠です。この実現には、パワー半導体デバイスとキャパシタの個別部品レベルではなく、回路レベルでの特性を正確に捉えることが必須です。
本セミナーでは、パワーエレクトロニクス回路の故障対策・寿命診断を回路レベルの視点からアプローチした技術について、パワーエレクトロニクス回路、パワー半導体デバイス、キャパシタの基礎と共に紹介します。
| 開催日時 |
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|---|---|
| 開催場所 | オンラインセミナー |
| カテゴリー | オンラインセミナー、電気・機械・メカトロ・設備 |
| 受講対象者 |
・パワーエレクトロニクス機器の研究・開発に関わる技術者の方 ・電気自動車、鉄道車両などパワーエレクトロニクスを導入している技術者の方 ・パワーエレクトロニクス・省エネルギー技術に関心のある研究機関の方 |
| 予備知識 | ・パワーエレクトロニクスの基礎から説明しますが、電気回路・電子回路について予備知識があると理解が深まります |
| 修得知識 |
・パワーエレクトロニクスの回路構成 ・パワー半導体デバイスの信頼性向上に向けた現時点での課題と対策 ・キャパシタの信頼性向上に向けた現時点での課題と対策 |
| プログラム |
１．パワーエレクトロニクスの基礎 ２．パワー半導体デバイスの信頼性と対策技術 ３．キャパシタの信頼性と対策技術 |
| キーワード | パワーエレクトロニクス チョッパ回路 インバータ パワー半導体デバイス ダイオード MOS FET IGBT ノイズ誤点呼メカニズム ノイズ耐性試験 キャパシタ 損失測定 コンディションモニタリング LCLフィルタ |
| タグ | 検査、寿命予測、信頼性試験・故障解析、未然防止、パワーデバイス、設備、電源・インバータ・コンバータ、電子機器、電子部品 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
オンラインセミナー本セミナーは、Web会議システムを使用したオンラインセミナーとして開催します。 |
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