テラヘルツ技術の基礎と計測技術およびセンシングへの応用 <オンラインセミナー>

~ テラヘルツ光源、検出器の性能指標と評価、計測方法およびセンシング技術への応用 ~

・テラヘルツ技術を効果的に活用し、防犯システム、品質管理、検査、非破壊検査へ活かすための講座
・テラヘルツの放射、光源、検出器、計測方法を修得し、高速かつ高性能な分析装置、非破壊検査装置の開発に活かそう!

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講師の言葉

テラヘルツ技術は1990年代後半から、フェムト秒レーザーによるテラヘルツ時間領域分光法や非線形光学効果によるテラヘルツ発振などのレーザー技術と伴に発展し、その後、電流励起および差周波発生テラヘルツ量子カスケードレーザーや共鳴トンネルダイオードなど、半導体技術による光源・検出器が進歩した。テラヘルツイメージセンサーではマイクロボロメータアレイ、MOSFET検出器アレイなど、常温動作の2次元撮像検出器の開発が進んだ。
これらの技術の発展に支えられ、安全・防犯、半導体製品、プラスチックなど高分子材料、食品などの有機物、医薬品、生体物質などのセンシングに用いる分析装置、非破壊検査装置への応用が期待されている。
本セミナーでは、テラヘルツの基礎から光源、検出器、性能指標、計測方法について解説するとともに、
今後の応用展開について紹介する。

セミナー詳細

開催日時
  • 2020年09月14日(月) 10:30 ~ 17:30
開催場所 日本テクノセンター研修室
カテゴリー オンラインセミナー電気・機械・メカトロ・設備
受講対象者 ・テラヘルツ技術に関心を持っておられる全ての方
・テラヘルツセンサの開発、性能評価に携わっておられる方
・計測システムを開発、使用されている方
・分光、イメージング計測をされている方
・テラヘルツの応用を考えられている方
(半導体、安全・防犯、高分子、有機材料、製薬・医療、食品、農作物他)
予備知識 ・テラヘルツに関心があれば理解が深まります
修得知識 ・テラヘルツの基本
・テラヘルツセンサと計測技術
・分光、イメージング技術
プログラム

1.テラヘルツとは
  (1). 光と電波の境界
  (2). 電磁波で光子
  (3). テラヘルツの性質と特徴

2.テラヘルツ研究の歴史
  (1). 光は紀元前、赤外線は1800年から
  (2). 赤外線からテラヘルツへ

3.電場と磁場の波動
  (1). やさしい電磁波学
  (2). 電磁波の伝搬における吸収
  (3). 透過と反射
  (4). 散乱、回折と消散
  (5). テラヘルツの大気減衰と窓

4.テラヘルツの放射
  (1). アンテナ放射
  (2). 熱放射と黒体光源

5.光子・電磁波と物質の関係
  (1). 光子と物質の作用
  (2). 電磁波と物質の作用
  (3). 線スペクトルと連続スペクトル
  (4). テラヘルツの透過材料、非線形光学材料

6.テラヘルツ光源
  (1). フェムト秒レーザー励起サブピコ秒パルス光源
  (2). 電流注入型および差周波発生型量子カスケードレーザー
  (3). 共鳴トンネルダイオードテラヘルツ光源
  (4). 非線形光学効果を用いる固体レーザー
  (5). ジャイロトロンと加速器光源
  (6). 半導体テラヘルツ発振素子の比較

7.テラヘルツ検出器
  (1). テラヘルツ検出器と感度
      a. 光子検出
      b. 熱検出
      c. 電界検出
  (2). 検出器の雑音
      a. 雑音と分散、標準偏差とスペクトル密度関数
      b. 雑音の種類
      c. テラヘルツ検出器の雑音

8.テラヘルツ検出器の性能指標と評価
  (1). 性能指標
      a. NEP(雑音等価電力)
      b. 検出能Dおよび比検出能D*
      c. 雑音等価放射照度(NEI)
      d. 雑音等価温度差(NETD)
  (2). 性能評価法
  (3). 非冷却テラヘルツ検出器アレイの性能の現状

9.テラヘルツ計測の方法
  (1). アクティブセンシングとパッシブセンシング
  (2). 分光法
      a. グレーティング分光法
      b. フーリエ分光法(FTIR)
      c. テラヘルツ時間領域分光法(THz-TDS)
  (3). イメージング
      a. シングルバンド、マルチバンドおよびスペクトルイメージング
      b. 2次元およびパルス・3次元イメージング
  (4). 近接場顕微鏡

10.テラヘルツの応用
  (1). テラヘルツの応用分野
  (2). 安全・防犯のためのテラヘルツセンシング
      a. 封筒中違法薬物のスペクトルイメージング
      b. THz-量子カスケードレーザ(QCL)と広視野大面積THzアレイによるイメージング
      c. THzパッシブボディスキャナによる衣服中の物質の検出
  (3). 製薬の品質管理のためのテラヘルツ計測
      a. 錠剤コートのTHzパルスイメージング
      b. 医薬品テラヘルツスペクトルデータベース
  (4). 医療検査へのテラヘルツの応用
      a. DNAのラベルフリー検出
      b. がん部のTHzパルスイメージング
      c. がん細胞メチル化DNAのTHz吸収スペクトル
  (5). 水のテラヘルツスペクトル
  (6). 高分子・有機材料のテラヘルツ計測
      a. 偏光計測による黒色ゴムの内部歪みの検出
      b. 金属面ポリマーコートの劣化の反射イメージング
      c. 多層塗装膜の非破壊検査
      d. プラスチック管の厚み分布の高速計測
      e. 布のテラヘルツ吸収スペクトル
      f. THz分光による紙の密度、性質の計測
      g. 発泡樹脂板の欠陥の高速イメージング
      h. 色素分子の異性体の識別
  (7). 食品・農産物のテラヘルツセンシング
      a. 葉の水分分布のモニター
      b. 偏光測定による髪の毛1本の検出
      c. 板チョコレートの内部のイメージング
  (8). 半導体・誘電体のテラヘルツ計測
      a. シリコン半導体ウェハー中の不純物濃度のイメージング
      b. ガリウムひ素半導体中の電子‐正孔プラズマ振動の超高速テラヘルツ計測
  (9). 古美術品の診断
      a. 美術絵画の絵の具の塗り具合の検出
  (10). 低温物体のテラヘルツパッシブセンシング
      a. ペルチェ素子のパッシブイメージング
      b. 高温超伝導電線の超伝導状態のイメージング
  (11). テラヘルツの標準
      a. テラヘルツパルス光源のパワーの評価
      b. テラヘルツ時間領域分光装置の国際比較
  (12). テラヘルツ通信の研究動向

キーワード テラヘルツ テラヘルツ光源  テラヘルツ計測 テラヘルツセンシング テラヘルツ通信 
タグ 通信光通信センサ光学
受講料 一般 (1名):49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名):44,000円(税込)
会場
日本テクノセンター研修室
〒 163-0722 東京都新宿区西新宿2-7-1 新宿第一生命ビルディング(22階)
- JR「新宿駅」西口から徒歩10分
- 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分
- 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分
電話番号 : 03-5322-5888
FAX : 03-5322-5666
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