～ 光学系と画像処理の最適化設計、機械学習による外観検査アルゴリズム開発のポイント、外観検査技術のアルゴリズムと実例 ～
・画像認識とディープラーニングの基礎と活用法を修得し、高精度な外観検査技術に応用するための講座
・外観検査に特有の画像の撮影法や画像認識アルゴリズムを学び、外観検査や欠陥検査へ活かそう！
・エキスパートの方から機械学習ベースの画像を用いた外観検査技術のキーポイントやノウハウが修得できる特別セミナー！
・ＷＥＢ会議システムの使い方がご不明の方は弊社でご説明いたしますのでお気軽にご相談ください。
近年、自動運転を始めとする多彩なアプリケーションに必要な技術として盛り上がっている機械学習を用いた画像認識技術とそこで使用されるディープラーニングの基礎について説明致します。具体的には、光学系を用いた画像の撮影に関する技術から、画像認識技術の概要、一般的な画像認識処理フロー、評価方法、様々な画像認識アルゴリズムについて、また、ディープラーニングの基礎、それらの外観検査技術への応用例を含む、外観検査技術全般にわたり解説致します。ディープラーニングをはじめとする機械学習ベースの画像を用いた外観検査技術に興味がある方におすすめ致します。
| 開催日時 |
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|---|---|
| 開催場所 | 日本テクノセンター研修室 |
| カテゴリー | オンラインセミナー、ソフト・データ・画像・デザイン |
| 受講対象者 | ・ディープラーニングをはじめとする機械学習ベースの外観検査技術に興味がある方 |
| 予備知識 | ・予備知識として画像データに対する知識があると理解が深まります |
| 修得知識 |
・ディープラーニングをはじめとする機械学習技術を活用した外観検査技術の概要、キーポイントと課題 |
| プログラム |
１．画像認識技術の概要 ２．画像の撮影 ３．画像認識技術 ４．ディープラーニングの基礎 ５．外観検査技術の実例 ６．画像認識技術を用いた欠陥検査の今後の動向 |
| キーワード | 画像認識 撮影画像 画像処理 光学系 最適化設計 偏光カメラ 特徴量 アルゴリズム 正則化 畳み込みニューラルネットワーク 欠陥検査 |
| タグ | AI・機械学習、検査、画像、画像処理 |
| 受講料 |
一般 (1名)：49,500円(税込)
同時複数申込の場合(1名)：44,000円(税込) |
| 会場 |
日本テクノセンター研修室〒 163-0722 東京都新宿区西新宿２－７－１ 新宿第一生命ビルディング（２２階）- JR「新宿駅」西口から徒歩10分 - 東京メトロ丸ノ内線「西新宿駅」から徒歩8分 - 都営大江戸線「都庁前駅」から徒歩5分 電話番号 : 03-5322-5888 FAX : 03-5322-5666 |
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